使用D/teX Ultra探测器缩短测试时间

使用MiniFlex300/600时,为了获得更高的强度可以选择搭载高速一维探测器D/teX Ultra。通过使用该探测器,可以获得相比闪烁计数器高数十倍,甚至百倍程度的衍射强度,测定时间也可大幅缩短。图1分别显示了使用闪烁计数器和高速一维探测器D/teX Ultra所获得的衍射图。

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图1:  分别使用闪烁计数器和高速一维探测器时所得到衍射图

使用高速一维探测器 D/teX Ultra,不仅能够快速完成测试,对检测微量成分也发挥着巨大作用。图2所示为在测定时间只有1分钟时获得的矿物样品的衍射图及其定性分析结果。混有多种成分的矿物样品的定性分析结果,其灵敏度非常优秀,可在非常短的测定时间内完成评价。 

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图2:  矿物样品的定性分析结果

仪器条件 : MiniFlex600(微焦点管 40 kV 15 mA),探测器 : D/teX Ultra(适用Kβ滤光片),狭缝系统 : DS = 1.25°、SS = 8 mm、RS = 13 mm,入射・接收索拉狭缝 = 5°,入射高度限制狭缝 = 10 mm

测定条件 : 测角范围 2θ = 10 ~ 70°,步长 0.02°,扫描速度 80° / min.(约1分钟) 


miniflex2012年最新添加了MiniFlex系列的台式X射线衍射(XRD)分析仪。第5代MiniFlex可以进行多晶材料的定性分析与定量分析,是一般用途的X射线分衍射仪。本次MiniFlex提供两种类型以供选择,当运行600W(X射线管)时,MiniFlex600的能量比其他台式模型高两倍,实现了更为快捷的分析并且改善了总体的容许功率。运行300W(X射线管)时,新型MiniFlex300不需要外部的送水装置。每个模式都设计使台式组件的灵活性最大化。 Read more about Rigaku MiniFlex...