使用D/teX Ultra进行微量成分分析

MiniFlex300/600可以搭载高速一维探测器D/teX Ultra。使用该探测器,可以获得相比闪烁计数器高数十倍,甚至百倍程度的强度。利用这一特长可以大幅缩短测定时间,同时也适用于检测微量成分或者高灵敏度测定微小样品等。图1分别显示使用闪烁计数器和高速一维探测器D/teX Ultra所获得的衍射图。

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图1: 分别使用闪烁计数器和高速一维探测器时所得到的衍射图

图2所示为通过标准添加法定量分析金红石试剂中含有的极微量锐钛矿的结果(一个样品的测定时间为一分钟)。通过测试结果可以看到金红石试剂中仅含有约0.14 mass%的锐钛矿。因此,使用高速一维探测器D/teX Ultra,可以高灵敏度且短时间内对1 mass%以下的微量成分进行分析评价。 

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图2:  金红石试剂中含有的微量锐钛矿的X射线衍射图及其定量分析结果

仪器条件 : MiniFlex600(细焦点ス管 40 kV 15 mA),探测器 : D/teX Ultra(使用Kβ滤光片),狭缝系统 : DS = 1.25°、SS = 8 mm、RS = 13 mm,入射・接收索拉狭缝 = 5°,入射高度限制狭缝 = 10 mm

测定条件 : 测角范围 2θ = 24.9 ~ 25.6°,步长 0.02°,扫描速度 1°/ min.(约1分钟) 


miniflex2012年最新添加了MiniFlex系列的台式X射线衍射(XRD)分析仪。第5代MiniFlex可以进行多晶材料的定性分析与定量分析,是一般用途的X射线分衍射仪。本次MiniFlex提供两种类型以供选择,当运行600W(X射线管)时,MiniFlex600的能量比其他台式模型高两倍,实现了更为快捷的分析并且改善了总体的容许功率。运行300W(X射线管)时,新型MiniFlex300不需要外部的送水装置。每个模式都设计使台式组件的灵活性最大化。 Read more about Rigaku MiniFlex...