D/teX Ultra荧光X射线衰减模式

MiniFlex300/600为了获得更高的强度,可以搭载高速一维探测器D/teX Ultra。该探测器具有更高的能量分辨率,因此无需使用接收侧单色器也能够有效消除从样品发出的荧光X射线。图1分别显示了使用标准能量分辨率范围(标准模式)和能够消除Fe的荧光X射线的能量分辨率范围(荧光X射线衰减模式)测定的赤铁矿X射线衍射图。


图1: 标准模式和荧光X射线衰减模式下分别测试所得的赤铁矿X射线衍射图

图2所示为使用荧光X射线衰减模式所得到的铁矿石X射线衍射图及定性分析结果。通过使用荧光X射线衰减模式,即使是用Cu射线源对Fe系化合物的进行分析,也可以获得较低背景的X射线衍射结果,能够检测微量成分。


图2: 金红石试剂中含有的微量锐钛矿的X射线衍射图及其定量分析结果

仪器条件 : MiniFlex600(细焦点管 40 kV 15 mA),探测器 : D/teX Ultra(使用Kβ滤光片),狭缝系统 : DS = 1.25°、 SS = 8mm、 RS = 13 mm,入射・接收索拉狭缝 = 5°,入射高度限制狭缝 = 10 mm

测定条件 : 测角范围 2θ= 10 ~ 60°,步长 0.02°,扫描速度 20° / min.(约3分钟) 


2012年最新添加了MiniFlex系列的台式X射线衍射(XRD)分析仪。第5代MiniFlex可以进行多晶材料的定性分析与定量分析,是一般用途的X射线分衍射仪。本次MiniFlex提供两种类型以供选择,当运行600W(X射线管)时,MiniFlex600的能量比其他台式模型高两倍,实现了更为快捷的分析并且改善了总体的容许功率。运行300W(X射线管)时,新型MiniFlex300不需要外部的送水装置。每个模式都设计使台式组件的灵活性最大化。 Read more...