可调阻光刀片的特点

MiniFlex300/600中,为了获得更高强度可以搭载高速一维探测器D/teX Ultra。该探测器探测面大,可以高效计数从样品发出的衍射X射线,因此可以获得相比闪烁计数器高数十倍,甚至百倍程度的强度。此外,使用荧光X射线衰减模式和阻光刀片等可以降低背景。图1显示使用和未使用刀片时获得的X射线衍射图。通过使用刀片可以将低角度侧的散射背景最小化。由于阻光刀片随着衍射角度2θ 移动可调,高角度侧无盲区(强度衰减),能够完成从低角度侧到高角度侧全部测定。


图 1: 使用和未使用阻光刀片时测得的沸石X射线衍射图(扩大)

图2所示为使用阻光刀片测试所得牛奶巧克力和黑巧克力的X射线衍射图。从图中可以知道低角度侧的背景受到抑制,可以清晰观测巧克力中含有的可可粉(POS:软脂酸-硬脂酸结合构造)在低角度侧的衍射峰。


图 2: 牛奶巧克力和黑巧克力的定性分析结果

仪器条件 : MiniFlex600 (细焦点 40 kV 15 mA),探测器: D/teX Ultra(适用Kβ滤光片),狭缝系统: DS = 0.625°、SS = 8 mm、RS = 13 mm,入射・接收索拉狭缝 = 5°,入射高度限制狭缝 = 10 mm
测定条件 : 测角范围 2θ = 3 ~ 40°,步长 0.02°,扫描速度 20° / min.(约2分) 


2012年最新添加了MiniFlex系列的台式X射线衍射(XRD)分析仪。第5代MiniFlex可以进行多晶材料的定性分析与定量分析,是一般用途的X射线分衍射仪。本次MiniFlex提供两种类型以供选择,当运行600W(X射线管)时,MiniFlex600的能量比其他台式模型高两倍,实现了更为快捷的分析并且改善了总体的容许功率。运行300W(X射线管)时,新型MiniFlex300不需要外部的送水装置。每个模式都设计使台式组件的灵活性最大化。 Read more...