X射线应力分析仪

积累在材料中残余应力的非破坏性测定

PSPC/MSF

使用X射线非破坏性测定在材料的制造过程中积累下的残余应力。不同帧尺寸容纳大、中、小的样品。

位置灵敏正比计数器(PSPC)允许告诉测量。与常规方法相比,测量时间大幅减小,根据测量方式不同加快10到100倍。这是一个磁场定向X谁西安应力分析仪,操作者可以通过简单操作立即获取应力数值的最终数据。

测定原理

入射X射线从晶粒的特定晶面衍射。衍射的X射线进入PSPC(长度L)并与探测器气体发生碰撞电力分子。交叉阴极和阳极提供一个高电压,诱导电荷在阴极的χ位置上收集。
相应的脉冲经过一段时间后出现在延迟线的两端,与入射位置χ成正比。当D表示每个单位长度的延迟时间,并且TA和TB分别表示在前置放大器A和B处生成输出所需的时间,则可得出以下方程:
TA=Dχ

TB=D(L-χ)

TB-TA=D(L-2χ)

因此两个前置放大器(TB-TA)输出时间差异与位置χ成正比。由于延迟时间小于1.3微秒,几乎可以同时通过有效长度L进行测量。

PSPC/MSF Rapid X-ray Stress Analyzer

Features

  • 可以立即获取应力数值的最终数据
  • 实地操作的优化系统允许批量处理样品
  • 可以测量各种形状的样品
  • 包含倾角法、侧倾斜法等各种测量方法
  • 测量条件随时通过CRT进行检查


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