铂纳米粒子膜的X射线反射率(XRR)和掠入射小角X射线散射(GISAXS)的结合分析

近来,纳米薄膜由于其在基础研究和应用技术的重要性,引起了极大关注。铂纳米粒子由于其新奇的特性而受到特别关注。

除了先进的X射线分析,没有一种技术可以通过非破坏性的方式提供全面的结构信息,例如晶相、膜厚和纳米粒子大小分不等。SmartLab多功能X射线衍射仪的自动Guidance™测量软件向纳米薄膜提供快速简便的分析法。

platinum nanoparticulate film deposited on silicon analyzed

platinum nanoparticulate film deposited on silicon analyzed

如上图所示,铂纳米粒子膜沉积于硅上,通过X射线反射率和掠入射小角散射进行分析。XRR数据显示了这层膜厚度约为8.55nm,平均密度14.23g/cm³,低于金属铂的密度。这说明该薄膜存在很多孔。关于膜厚,免费的GISAXS数据显示出铂粒子有一个约为8.67nm的非常狭窄的大小分布,说明了该膜仅由纳米粒子的单层组成。GISAXS数据还显示了膜中确实存在平均孔隙大小为1.52nm的孔,与XRR数据的密度计算相一致。


SmartLab是当下最新型的高分辨率衍射仪。它的最新特点是SmartLab Guidance软件。此软件向用户提供智能界面,指导用户完成每个实验中的复杂问题。使用SmartLab Guidance软件就像有一位专家在您的身边指导完成实验。 Read more...