小角X射线散射(SAXS)分析多孔硅纳米粒子

SAXS是一种非破坏技术,提供快速测量纳米粒子大小分布。SmartLab多功能衍射仪受益于其精密的光学设计和自动调节程序,使没有SAXS经验的人也能够轻松进行SAXS测量,因此是材料科学研究和发展的最佳选择。

如下图所示,显示测量多孔纳米粒子的一个SAXS曲线。该测量从光学调整到样品调整以及数据收集都是自动完成的。该样品由已知的硅纳米颗粒制成,多孔,即包含纳米孔的纳米粒子。为了提取纳米粒子大小分布和纳米孔大小分布的信息,我们在模型中考虑了两种不同的尺寸。通过使用NanoSolver软件进行最小二乘法的拟合过程模拟测量曲线。拟合曲线与实测曲线同时显示在同一图像中,如下所示。此外,还显示两种不同分布的影响以及剩余曲线,实测曲线与拟合曲线的差异。显然两条曲线具有优越的一致性。

SAXS curve measured from porous silica nanoparticles
多孔硅纳米粒子

从拟合结果我们可以知道硅粒子的平均大小为53nm相对较宽的大小分布。另一方面,孔要小得多,直径大约为3nm且非常均匀。孔的体积分数作为孔隙率大约为30%。


SmartLab是当下最新型的高分辨率衍射仪。它的最新特点是SmartLab Guidance软件。此软件向用户提供智能界面,指导用户完成每个实验中的复杂问题。使用SmartLab Guidance软件就像有一位专家在您的身边指导完成实验。 Read more about SmartLab...