使用理学ZSX Primus波长色散X射线荧光光谱仪和SQX无标样分析进行故障分析

故障分析可以涉及多种分析技术来确定故障原因。WDXRF已被征明是非常有用的方法来帮助故障分析,由于在很多情况下,元素组成是确定故障模式的核心。使用当下现代半定量模式,无需元素标样的操作可以快速轻松执行分析。

作为一个事例,我们分析了沉淀在送水装置中的泥沙,它被认为是实验室X射线仪器潜在故障的重要原因。在这种情况下,只有两颗粉末样品收回供分析使用。该样品通过干燥制备并放入附有Prolene膜的塑料样品室作为表面分析窗口,如图1所示。

sample was prepared by drying and placing it into a plastic sample cell with Prolene film

图1

该示例通过理学Primus WDXRF系统加载并在一个真空环境下运行。通过理学无标样SQX程序和EZ例行扫描完成分析。在图2中可以看到EZ扫描设置窗口,显示了执行一个完整半定量元素分析的5个问题。

sanalysis was done using Rigaku's standardless program

图2

如表1所示可以看到泥沙扫描产生的元素数据。

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表1 : 泥沙故障分析

铜和锌的高元素浓度说明讨论中仪器的铜的等高线退化。

如图所示,在该样品中,XRF数据可以提供确定已经或可能发生故障的位置的线索。该方法可用于维护设备和为实际故障事先预测过程中存在的问题。


理学公司的ZSX Primus提供从Be到U主、次元素快速定量分析,广泛的样品种类,很少的标样要求。 Read more...