铜线内内含物的微观分析

通过ZSX Primus Mapping/Micro Analysis特征检查由于电线的内部内含物导致的电线故障。XRF中的CCD相机拍摄图片从而使用户通过点击功能确定应该分析样品的位置。
提供一些很多内含物嵌入的电线用于分析,内含物造成一长串电线的生产故障。电线放入样品杯中,每一个都被定位在可以提供用于分析问题区域的最好的“视图”位置。对每条电线执行半定量分析,从而确定内含物或故障成分位于电线的尖端(图1-3)。除了酒精擦拭和定位样品在透明支持基板上(本次使用一个塑料按压盖)没有进行其他样品准备,从而防止从分析室发出的背景散射。

图1: 电线1
图2: 电线1,交替视域
图3: 电线2

每个样品进行两个斑点分析,一个在轴上,另一个在电线尖端上。如图1-3所示,使用理学SQX例行分析执行半定量分析。

一些比较扫描样品如图4-8所示,其结果显示在图4-5。

图4: 电线1 Ni
图5: 电线1 Cr

图6: 电线Al
图7: 电线2 Cr(尖端-红色、轴-蓝色)



图8: 电线2 Ni(尖端-红色、轴-蓝色)


这些结果显示了被分析材料的明显的差异。从这些结果可以确定制作过程中内含物原子何处。

电线1



 
 
 534316 – 轴 质量百分比
 534316 – 尖端 质量百分比
C
ND
4.41
Cl
0.13
ND
Cr
ND
0.52
Fe
0.06
0.11
Ni
0.08
1.22
Cu
99.73
93.74


表2: 电线2



理学公司的ZSX Primus提供从Be到U主、次元素快速定量分析,广泛的样品种类,很少的标样要求。 Read more...