使用固定角度SQX测定Cr/Fe镍合金

理学SX Primus II WDXRF光谱仪包括一个无标样、半定量分析程序,成为SQX。使用该程序,一个定性分析运行,检测到的元素通过无需参考标准样品的基本参数(FP)法进行量化。在量化过程中,使用一个灵敏库,它具有对每个元素的FP灵敏度,并使用纯金属和试剂进行校正。
SQX具有一个“固定角度”的测定功能。使用这项功能在用户指定的时间内在一个固定的2θ角度下收集X射线强度,通常比扫描时间长一些,因此,精度得到提高且能够获得更好的微量元素的结果。
在此分析中,通过SQX程序进行了每20秒计数每个峰和背景位置的固定角度测量。通过此固定角度测定法检测出一些在图中不是很明显的元素。标识的元素被量化(表1)显示出良好的相关性来认证该材料的浓度。

X-ray intensity is collected

图1

该样品通过砂带打磨机进行磨光处理,使用#80铝-氧化锆带消除表面污染无从而提高分析精度。

  Cr Fe Al Co Cu Mg Mn Mo Nb Ni Si Ti V P S
201A (Inco690) 29.9 9.09 0.37 0.009 0.008 0.006 0.19 0.018 0.009 59.9 0.15 0.30 0.011 0.005 0.0004
SQX 31.0 9.10 0.39 0.010 0.010 ND 0.19 0.015 0.007 59.0 0.13 0.30 0.013 0.0031 0.0005

表1: Cr/Fe镍合金



ZSX PrimusⅡ具有创新性的上照射式的光学配置。再也不用担心由于光束路径受污染或故障时间而导致样品室的维护。上照射式的光学配置消除了清洁的烦扰并增加了正常运行时间。 Read more...