Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometer

Rapid elemental analysis for very large and/or heavy samples

AZX 400

理学独特的AZX 400连续波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)是专门用来处理大型或重型样品的。最大可以测量直径400mm、50mm厚、30kg重的样品,该仪器是用于分析溅射靶材、磁盘、多层膜计量或大样品的元素分析的最佳选择。

自定义样品适配器系统


通过使用插入的选购(订做)适配器,AZX 400适用于各种尺寸和形状的样品,具有多种功能来满足用户特殊样品类型和分析需要。通过一个可变的测量焦斑(从0.5到30mm的5步自动选择)和多点测量Mapping(绘图)能力来检查样品的均匀性,这个独特灵活的装置可以大大简化用户的质量控制流程。

特殊照明的样品显示相机


选购的实时相机可以将分析点反应到屏幕上。操作人员可以完全确定现在正在测量什么。

传统的WDXRF分析能力

所有传统仪器的分析能力都保留在这个“大型样品”变量中。通过具有高分辨率、高精度的 WDXRF 光谱分析铍(Be),从固体到液体、粉末甚至薄膜。分析广泛的化学成分范围(ppm到百分之几十)和厚度(sub Å到mm)。选购可用是衍射峰的干扰抑制,用来优化单晶基板的结果。理学AZX 400符合工业标准SEMI和CE。
AZX 400
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Features

  • 大型样品分析
    • 大至400毫米(直径)
    • 大至50毫米(厚度)
    • 大至30千克(质量)
  • 样品适配器系统
    • 适用于各种样品尺寸
  • 测量焦斑
    • 0.5到30毫米的直径
    • 5步自动选择
  • 描绘能力
    • 可以多点测量
  • 样品观察相机(选购)
  • 一般用途
    • 分析范围从Be到U
    • 元素范围: ppm到%
    • 厚度范围: sub Å到毫米
  • 衍射干扰抑制(选购)
    • 单晶衬底的精确结果
  • 遵守工业标准
    • SEMI, CE标志
  • 占地面积小
    • 是以往模型占地面积的一半