
HyPix-3000 is a next-generation two-dimensional semiconductor hybrid pixel array detector (HPAD), pixel size of 100 um², designed specifically to meet the needs of the home lab diffractionist.
>> See more
Rigaku ist sogleich Wegbereiter als auch Weltmarktführer beim Entwickeln und Anfertigen von Röntgenmessinstrumenten. So können alle Herausforderungen bei der Herstellung von Halbleitern erfolgreich überwunden werden. Seit etwa 30 Jahren weltmarktführend in der Halbleiterindustrie, ermöglichen unsere Produkte praktisch alles, von der Prozesskontrolle bei der Materialherstellung bis über Forschung und Entwicklung von Dünnschichten und Materialcharakterisierung.
![]() |
MFM310 Instrument zur Prozessmesstechnik von gemusterten Halbleiterscheiben (bis zu 300 mm) mittels XRR, XRF, und XRD |
![]() |
TXRF-310 Analyse von Spurenelementen in Oberflächenverunreinigungen mittlels TXRF; Halbleiterscheiben bis zu 300 mm |
![]() |
TXRF 3760 Analyse von Spurenelementen in Oberflächenverunreinigungen mittlels TXRF; Halbleiterscheiben bis zu 200 mm |
|||||
![]() |
TXRF-V310 Analyse von Ultra-Spurenelementen in Oberflächenverunreinigungen mittlels TXRF und VPD; Halbleiterscheiben bis zu 300 mm |
![]() |
WaferX 310 Lineares, simultanes WDXRF Spektrometer für Messungen von metallbeschichteten Halbleiterscheiben; Halbleiterscheiben bis zu 300 mm |
![]() |
WDA-3650 Simultanes WDXRF Spektrometer für Messungen von metallbeschichteten Halbleiterscheiben; Halbleiterscheiben bis zu 200 mm |
|||||
![]() |
SmartLab Hochentwickeltes und hochauflösendes XRD-System mit Guidance Expertenbetriebssoftware |
![]() |
Ultima IV Hochleistungsfähiges Mehrzweck-XRD-System für breitgefächerte Anwendungen von Forschung & Entwicklung bis zur Qualitätskontrolle |
![]() |
TTRAX III Weltweit leistungsfähigstes θ/θ hochauflösendes Räntgendiffraktometer mit Diffraktionsarm auf gleicher Ebene |