
HyPix-3000 is a next-generation two-dimensional semiconductor hybrid pixel array detector (HPAD), pixel size of 100 um², designed specifically to meet the needs of the home lab diffractionist.
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Die Anwendungen von TXRF sind nicht nur auf die Analyse metallischer Verunreinigungen auf Siliziumwafern begrenzt. Die TXRF Analyse kann zudem auch zur Beurteilung der Reinheit in allen FAB-Pozessen genutzt werden, inklusive Reinigung, Lithographie, Ätzen, Veraschung, Schichten, etc. Zusätzlich zu Siliziumwafern kann TXRF auch für Verbindungs-Halbleitergeräte, MEMS, organische elektrolumineszente Materialien, etc. genutzt werden.
- Blanke Wafer
- Beschichtete Wafer
- Gemusterte Wafer
- VPD-verarbeitete Wafer
- Glaswafer
- GaAs / SiC / Saphir