Größenverteilung von CdSe-Nanopartikeln

Die CdSe-Legierung ist ein verbreitetes Halbleitermaterial. Die Partikel ermöglichen eine hohe Fluoreszenzintensität, Stabilität und monochromatische Eigenschaften. Deswegen werden sie als Materialien mit lichtemittierenden Eigenschaften im gesamten sichtbaren bis ultravioletten Bereich aktiv studiert. Dazu zählen Anwendungen als Bildschirmmaterialien sowie als medizinische/biochemische Fluoreszenzmarker oder Sensoren.

Fluoreszenzemissionsspektren von CdSe-Nanopartikeln unterscheiden sich größenabhängig beträchtlich. Mithilfe der Kleinwinkelröntgenstreuung (SAXS) Methode ist es möglich, Unterschiede in der Nanopartikelstruktur bis auf wenige Nanometer Größe detektieren zu können.

Unten dargestellt ist ein Photo (links) mit fünf Proben, synthetisiert mithilfe eines Mikroreaktors, mitsamt deren Fluoreszenzemissionsspektren (rechts).

sample synthesized
fluorescence emission spectra

Der Graph unten zeigt die SAXS-Daten und die Messergebnisse einer SAXS-Partikelgrößenverteilung. Die Abbildung zeigt Veränderungen der Emissionswellenlänge, abhängig von der Partikelgröße und inwiefern das Emissionsspektrum dem Umfang der Partikelgrößenverteilung entspricht.

SAXS dataresults of a SAXS particle size distribution measurement

Die Proben wurden von Associate Professor Takahisa Omata, Graduate School of Engineering, Osaka University; Dr. Hideaki Maeda und Dr. Hiroyuki Nakanura, Micro Kuukan Kagaku Labo, Nationales Institut für Industriewissenschaften und Technik, zur Verfügung gestellt.


The S-MAX3000 pinhole SAXS camera design is available with a choice of conventional or high brilliance X-ray sources. A 3-meter, fully evacuated camera length provides both high intensity and high resolution. Coupled with a fully integrated 2-dimensional multi-wire proportional counter, the system is capable of making highly sensitive measurements from both isotropic and anisotropic materials. A wide range of sample stage attachments provide maximum flexibility in controlling environmental sample conditions during measurement. Read more about S-MAX3000...