
This sixth generation benchtop diffraction system is a perfect XRD solution for R&D, QA/QC and teaching. Available high-speed detector, sample-changer and monochromator make it incredibly flexible.
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Die CdSe-Legierung ist ein beliebtes Material für Verbindungs-Halbleiter. Die Partikel bieten eine hohe Fluoreszenzintensität, Stabilität sowie monochromatische Eigenschaften. Aus diesem Grund werden Ihre Eigenschaften für die Entwicklung sichtbarer bis ultraviolett-emittierender Leuchtdioden derzeit eingehend untersucht. Letztere fänden Anwendung in Display-Materialien sowie als fluoreszente Sensoren und Indikatoren in der Medizin und Biochemie.
Fluoreszenz-Emissionssprektren von CdSe-Nanopartikeln unterscheiden sich abhängig von der jeweiligen Partikelgröße. Mittels Kleinwinkelröntgenstreuung (SAXS)-Methode ist es möglich, die Unterschiede in der Partikelgröße auf der Basis von wenigen Nanometern zu bestimmen.
Unten ist ein Photo von fünf Proben, synthetisiert mithilfe eines Mikroreaktors, mitsamt deren Fluoreszenzemissionsspektren abgebildet.
Die Graphen zeigen die SAXS-Daten und die Messergebnisse einer SAXS-Partikelgrößenverteilung. Diese Abbildung zeigt Unterschiede in der Emissionswellenlänge, abhängig von der Partikelgröße, und inwiefern die Emissionsspektrenweite mit den räumlichen Ausmaßen der Partikelgrößenverteilung zusammenhängt.
Die Proben wurden von Associate Progessor Takahisa Omata, Graduate School of Engineering, Universität von Osaka zur Verfügung gestellt; Dr. Hideaki Maeda und Dr. Hiroyuki Nakanura, Micro Kuukan Kagaku Labo, Nationales Institut für Industriewissenschaften und Technik.
Das Ultima IV repräsentiert das modernste Vielzweck-Röntgendiffraktometersystem (XRD) auf dem Markt. Mittels Rigakus patentierter Technologie der Cross Beam Optik (Querstrahloptik, CBO) für permanent befestigte, stets ausgerichtete und frei wählbare parallel/fokussierende Geometrien, kann das Ultima IV Röntgendiffraktometer vielfältige Messungen verrichten....und das besonders schnell. Read more about Rigaku's Ultima IV...