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Análisis elemental

Elemental analysis

Medición de casi cualquier elemento en casi cualquier matriz

La fluorescencia de rayos X (XRF) proporciona uno de los métodos analíticos más simples, precisos y económicos para la determinación de la composición elemental de muchos tipos de materiales. Indispensables tanto para las funciones de I+D como para las funciones de Control de Calidad (QA), nuestros productos avanzados y únicos de WDXRF, se utilizan habitualmente para analizar productos desde el cemento hasta plásticos y desde metales hasta alimentos y obleas semiconductoras. Las ofertas de Rigaku van desde sistemas WDXRF de longitud de onda dispersiva de máxima potencia y alto rendimiento, para las aplicaciones más exigentes, hasta una línea completa de sistemas EDXRF y WDXRF de sobremesa.

Análisis portátil de aleaciones de metal

En cuestión de segundos, el analizador portátil de metales, el Rigaku KT-100S, realiza fácilmente la identificación de los grados de aleación más difíciles. El analizador KT-100S utiliza la Espectroscopía de Plasma Inducido por Láser (LIBS) que permite una identificación duradera y precisa de la aleación; para ser utilizada en la clasificación de chatarra, el aseguramiento de la calidad en la fabricación de metal y la Identificación Positiva de Materiales (PMI) en operaciones de misión crítica, como en el campo aeroespacial y la petroquímica.

 

Application notes

The following application notes are relevant to this application

EDXRF

WDXRF

Process

Total reflection XRF (TXRF)

X-ray topography (XRT)

Rigaku recommends the following systems:


Total reflection XRF (TXRF)

El nuevo espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF), de sobremesa, de próxima generación

WDXRF

El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.

Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.

High-power, tube-below, sequential WDXRF spectrometer with new ZSX Guidance expert system software

Espectrómetro WDXRF secuencial de tubo inferior, de alta potencia, con el Sistema Inteligente de Carga de Muestras (SSLS)

Espectrómetro secuencial WDXRF de tubo superior (por arriba) y de alta potencia

Espectrómetro WDXRF diseñado para manejar muestras muy grandes y/o pesadas.

Espectrómetro WDXRF de alto rendimiento, multicanal, simultaneo, de tubo superior, analiza de Be a U

Analizador WDXRF de elemento único y tubo inferior, para aplicaciones de control de calidad

EDXRF

El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

Nuevo sistema EDXRF de colimador variable de pequeño punto de 60 kV con software QuantEZ

Nuevo sistema EDXRF de 60 kV con software QuantEZ y análisis sin estándares opcional.

El analizador elemental EDXRF de bajo costo mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

El analizador elemental EDXRF de rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

Espectrómetro EDXRF con potente software de Windows® y FP opcional

Process

Analizadores de escaneo de proceso de elementos múltiples, para aplicaciones de tira o bobina.

El analizador de procesos de elementos múltiples EDXRF analiza de aluminio (Al) a uranio (U).

LIBS

Espectrómetro portátil de ruptura inducida por láser (LIBS) para una identificación rápida y precisa de la aleación.

Espectrómetro portátil de ruptura inducida por láser (LIBS) para una identificación rápida y precisa de la aleación.