
XRD/SAXS determina los tamaños partícula y poro
Las propiedades físicas y químicas de las nanopartículas y los materiales nanocristalinos están fuertemente influenciadas por el tamaño de sus partículas, forma y tensión estructural, incluida la reología, el área de superficie, la capacidad de intercambio catiónico, la solubilidad, la reflectividad, etc. El tamaño del cristalito se realiza midiendo la ampliación de un pico particular de difracción de rayos X (XRD) en un patrón de difracción asociado con una reflexión plana particular desde el interior de la celda unitaria del cristal. Está inversamente relacionado con el FWHM (Anchura a Media Altura) de un pico individual: cuanto más estrecho es el pico, mayor es el tamaño del cristalito. Esto se debe a la periodicidad de los dominios individuales de cristalitos, en fase, lo que refuerza la difracción del haz de rayos X, lo que resulta en un pico alto y estrecho. Si los cristales no tienen defectos y están dispuestos periódicamente, el haz de rayos X se difracta al mismo ángulo incluso a través de múltiples capas de la muestra. Si los cristales están dispuestos aleatoriamente, o tienen bajos grados de periodicidad, el resultado es un pico más amplio.
Rigaku NANOPIX mini es mundialmente el primer sistema de dispersión de rayos X por ángulo pequeño (SAXS) de sobremesa, que está diseñado para ofrecer análisis de distribución automática de tamaño de nanopartículas tanto para el control de calidad (CC) como para aplicaciones de investigación y desarrollo (I+D). El tamaño de nanopartículas, la distribución de tamaños y la forma de las partículas son las piezas clave de información obtenidas por SAXS. Las muestras pueden variar desde soluciones, suspensiones o lodos hasta plásticos sólidos, goma o polímeros.
Application notes
The following application notes are relevant to this applicationSAXS
Rigaku recommends the following systems:
SAXS
Instrumento de dispersión de rayos X por ángulo amplio y pequeño diseñado para el análisis de nanoestructuras.
XRD
Difractómetro de rayos X multipropósito altamente versátil con guía inteligente incorporada
Sistema XRD multipropósito de alto rendimiento para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad.
X-ray CT
Detectors
Detector de rayos X 2D con la última tecnología de semiconductores diseñada para difractómetros de laboratorios caseros