
Aditivos, relación cristalina/amorfa y orientación
Muchos polímeros de plástico y fibras tienen cierto orden; pueden identificarse y estudiarse mediante métodos de difracción de rayos X. Estos polímeros son, al menos en parte, cristalinos o pseudocristalinos con estructuras parcialmente ordenadas que causan picos de difracción. De hecho, el porcentaje de cristalinidad en un polímero puede determinarse mediante métodos de difracción de rayos X. Esta relación cristalina/amorfa a menudo está relacionada con los métodos de procesamiento y es de gran importancia en la química de polímeros. Otros usos de XRD en la investigación y producción de plásticos y polímeros incluyen: la determinación del tipo de celda unitaria y los parámetros de red, la determinación de la microestructura y la determinación de la orientación cristalográfica a través de las figuras de polo.
Durante el desarrollo y la producción, los compuestos en los polímeros deben controlarse estrictamente para cumplir con las regulaciones nacionales e internacionales, evitando el peligro potencial debido a sustancias tóxicas y peligrosas. Las directivas para la Restricción de Sustancias Peligrosas (RoHS), así como para Vehículos al Final de su Vida Útil (VFU), incluyen restricciones para el uso de cadmio (Cd), mercurio (Hg), plomo (Pb), cromo (VI) (Cr) y retardantes de llama policromados (Br) (PBB y PBDE) para mitigar los riesgos potenciales para la salud o el medio ambiente. Para todas las tareas de I+D y producción de polímeros, la espectroscopía de fluorescencia de rayos X (XRF) puede identificar y cuantificar las concentraciones de los aditivos antes mencionados, así como antimonio, bario, calcio, cobre, fósforo, titanio, zinc y todos los demás elementos, desde sodio hasta uranio.
Application notes
The following application notes are relevant to this applicationWDXRF
SAXS
X-ray CT, Computed tomography
Rigaku recommends the following systems:
SAXS
Instrumento de dispersión de rayos X por ángulo amplio y pequeño diseñado para el análisis de nanoestructuras.
Un sistema Kratky 2D modernizado que elimina las correcciones de datos requeridas por los sistemas tradicionales
XRD
Difractómetro de rayos X multipropósito altamente versátil con guía inteligente incorporada
Nuevo sistema XRD de sobremesa de uso general de sexta generación para identificación y cuantificación de fase
Sistema XRD multipropósito de alto rendimiento para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad.
X-ray CT
WDXRF
El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.
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El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas