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Polímeros y fibras

Polymers and fibers

Aditivos, relación cristalina/amorfa y orientación

Muchos polímeros de plástico y fibras tienen cierto orden; pueden identificarse y estudiarse mediante métodos de difracción de rayos X. Estos polímeros son, al menos en parte, cristalinos o pseudocristalinos con estructuras parcialmente ordenadas que causan picos de difracción. De hecho, el porcentaje de cristalinidad en un polímero puede determinarse mediante métodos de difracción de rayos X. Esta relación cristalina/amorfa a menudo está relacionada con los métodos de procesamiento y es de gran importancia en la química de polímeros. Otros usos de XRD en la investigación y producción de plásticos y polímeros incluyen: la determinación del tipo de celda unitaria y los parámetros de red, la determinación de la microestructura y la determinación de la orientación cristalográfica a través de las figuras de polo.

Durante el desarrollo y la producción, los compuestos en los polímeros deben controlarse estrictamente para cumplir con las regulaciones nacionales e internacionales, evitando el peligro potencial debido a sustancias tóxicas y peligrosas. Las directivas para la Restricción de Sustancias Peligrosas (RoHS), así como para Vehículos al Final de su Vida Útil (VFU), incluyen restricciones para el uso de cadmio (Cd), mercurio (Hg), plomo (Pb), cromo (VI) (Cr) y retardantes de llama policromados (Br) (PBB y PBDE) para mitigar los riesgos potenciales para la salud o el medio ambiente. Para todas las tareas de I+D y producción de polímeros, la espectroscopía de fluorescencia de rayos X (XRF) puede identificar y cuantificar las concentraciones de los aditivos antes mencionados, así como antimonio, bario, calcio, cobre, fósforo, titanio, zinc y todos los demás elementos, desde sodio hasta uranio.

Rigaku recommends the following systems:


SAXS

Instrumento de dispersión de rayos X por ángulo amplio y pequeño diseñado para el análisis de nanoestructuras.

Small and wide angle X-ray scattering instrument designed for nano-structure analyses

Un sistema Kratky 2D modernizado que elimina las correcciones de datos requeridas por los sistemas tradicionales

XRD

Difractómetro de rayos X multipropósito altamente versátil con guía inteligente incorporada

Nuevo sistema XRD de sobremesa de uso general de sexta generación para identificación y cuantificación de fase

Sistema XRD multipropósito de alto rendimiento para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad.

X-ray CT

Microtomografía de muestras grandes de alta resolución, de sobremesa

Nanotomografía de resolución ultra alta utilizando geometría de haz paralelo.

WDXRF

El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.

EDXRF

El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

Nuevo sistema EDXRF de 60 kV con software QuantEZ y análisis sin estándares opcional.

Espectrómetro EDXRF con potente software de Windows® y FP opcional