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Ultima IV

Ultima IV
Features
  • Alineación completa automatizada bajo control de computadora
  • Brazo de difracción opcional en plano para la medición en plano sin reconfiguración
  • Enfoque y geometrías de haz paralelas sin reconfiguración.
  • Small angle X-ray scattering (SAXS) capabilities.
  • Various automated non-ambient stages are available.

Difractómetro de rayos X (XRD) multipropósito y automático

Difracción de polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura polar, tensión residual y experimentos en el plano

Ultima IV representa el sistema estado del arte dentro de los sistemas multiuso de difracción de rayos X (DRX o XRD). Incorporando la tecnología patentada de la óptica transversal del haz (CBO) de Rigaku para instalarse y alinearse permanentemente, y permitir enfoque de geometrías y paralelos seleccionables por el usuario; el difractómetro de rayos X Ultima IV puede realizar muchas mediciones diferentes ... rápidamente...

Diseñado para un máximo rendimiento

Con un difractómetro de multiuso Ultima IV, el rendimiento se mide no sólo por la rapidez con que se realiza un experimento, sino también en lo rápido que usted puede cambiar entre los diferentes tipos de experimentos. Los experimentos individuales se han optimizado con accesorios como el sistema sensible detector de posición de alta velocidad D/teX Ultra ;pero la velocidad entre los experimentos se mejoró radicalmente con la combinación de la alineación automática y CBO.

Diseñado para la flexibilidad

Ultima IV es actualmente el único sistema de difracción de rayos X en el mercado que incorpora la alineación totalmente automática. Cuando se combina con la CBO y el brazo en el plano, la capacidad de alineamiento automático hace del difractómetro de rayos X Ultima IV, el sistema más flexible para múltiples aplicaciones.

Funcionalidad redefinida

En el sistema DRX Ultima IV DRX, la tecnología CBO elimina el tiempo dedicado a las geometrías de conmutación; permite a los usuarios diarios ejecutar ambas series de experimentos sin la necesidad de reconfigurar el sistema y reduce el desgaste y los posibles daños ópticos asociados con el proceso de conmutación recurrente. La CBO y la alineación automática se combinan para ofrecer lo último en funcionalidad para: la difracción microcristalina, la difracción de película delgada, la dispersión de ángulo pequeño, y la dispersión en plano.

Especificaciones

Nombre del producto Ultima IV
Técnica Difracción de rayos X
Ventajas Difracción por polvo, difracción de película delgada, SAXS, figura de polo, experimentos en plano y no ambientales
Tecnología Difractómetro de rayos X θ-θ multipropósito
Atributos principales Tubo de rayos X sellado de 3 kW, detector de tiras de silicio D/teX Ultra, geometría θ-θ independiente
Opciones principales Diversos accesorios, cambiador de muestras de 10 posiciones y otros sujetadores de muestras
Computadora PC externa, MS Windows® OS, software SmartLab Studio II.
Dimensiones principales 1100 (ancho) x 1600 (alto) x 80 (profundo) mm
Cuerpo Aprox. 700 kg (unidad central)
Requerimientos de energía 3Ø, 200 VAC 50/60 Hz 30 A o 1Ø, 220-230 VAC 50/60 Hz 40 A