Element / phase analysis and molecular structure
X-ray analytical methods have a long history as important tools to investigate and establish facts in criminal or civil courts of law to analyze, identify or compare unknown materials. Small spot X-ray fluorescence (XRF) is a non-destructive method to determine concentration and distribution of chemical elements such as Pb and Cu residue from bullet holes in clothing, for example. X-ray diffraction (XRD) can identify chemical phases in complete unknowns. Both techniques allow standardless quantification of element concentrations and phase composition. Rigaku's Raman spectrometer Progeny ResQ 1064 nm provides the industry’s most comprehensive tool for fast and reliable chemical identification, CBRNe detection and narcotics classification in a simple and easy-to-use handheld form.
Rigaku recommends the following systems:
WDXRF
El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.
Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.
Espectrómetro WDXRF de alto rendimiento, multicanal, simultaneo, de tubo superior, analiza de Be a U
Analizador WDXRF de elemento único y tubo inferior, para aplicaciones de control de calidad
XRD
Nuevo sistema XRD de sobremesa de uso general de sexta generación para identificación y cuantificación de fase
Raman
El original analizador portátil Raman de 1064 nm, para ampliar la respuesta a los incidentes, identificando más amenazas químicas y narcóticos.
Analizador enfocado en narcóticos para identificar las últimas formaciones de opioides y fentanilo
Ergonomía mejorada para una identificación y detección más conveniente de amenazas químicas y narcóticos, incluso en cantidades no visibles, utilizando la ventaja Raman de 1064 nm.
Ergonomía mejorada para una identificación y detección más conveniente de amenazas químicas y narcóticos, incluso en cantidades no visibles, utilizando la ventaja Raman de 1064 nm.
EDXRF
El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
