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Mining and refining

Mining and refining

Analysis of ores, feeds, slag, tails and metals

Rigaku instruments are used for elemental and mineralogical analysis for efficient, green and high-quality production. X-ray Fluorescence (XRF) and X-ray Diffraction (XRD) can be used to determine, for example, metal-oxide concentrations, oxide stoichiometry and quantities of mineralogical phases, which are crucial for your mining, refining and production processes. Rigaku offers a variety of solutions for your R&D laboratory, for routine production and process control, as well as cost-effective benchtop equipment, fulfilling the analytical requirements of industry standards. All of this is combined with excellent service and support structure for guaranteed equipment uptime.

Rigaku recommends the following systems:


WDXRF

El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.

Espectrómetro WDXRF secuencial de tubo inferior, de alta potencia, con el Sistema Inteligente de Carga de Muestras (SSLS)

Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.

Espectrómetro secuencial WDXRF de tubo superior (por arriba) y de alta potencia

Espectrómetro WDXRF de alto rendimiento, multicanal, simultaneo, de tubo superior, analiza de Be a U

High-power, tube-below, sequential WDXRF spectrometer with new ZSX Guidance expert system software

XRD

Nuevo sistema XRD de sobremesa de uso general de sexta generación para identificación y cuantificación de fase

Nuevo sistema XRD de sobremesa de uso general de sexta generación para identificación y cuantificación de fase

EDXRF

El analizador elemental EDXRF de rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

Nuevo sistema EDXRF de 60 kV con software QuantEZ y análisis sin estándares opcional.

Nuevo sistema EDXRF de colimador variable de pequeño punto de 60 kV con software QuantEZ

Espectrómetro EDXRF con potente software de Windows® y FP opcional

El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

X-ray CT

Microtomografía de muestra estacionaria de alta velocidad, de muestras grandes

Nanotomografía de resolución ultra alta utilizando geometría de haz paralelo.

Microtomografía de muestras grandes de alta resolución, de sobremesa

Applications

The following applications are relevant to this industry

WDXRF

EDXRF

XRD