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Análisis elemental

Elemental analysis

Medición de casi cualquier elemento en casi cualquier matriz

La fluorescencia de rayos X (XRF) proporciona uno de los métodos analíticos más simples, precisos y económicos para la determinación de la composición elemental de muchos tipos de materiales. Indispensables tanto para las funciones de I+D como para las funciones de Control de Calidad (QA), nuestros productos avanzados y únicos de WDXRF, se utilizan habitualmente para analizar productos desde el cemento hasta plásticos y desde metales hasta alimentos y obleas semiconductoras. Las ofertas de Rigaku van desde sistemas WDXRF de longitud de onda dispersiva de máxima potencia y alto rendimiento, para las aplicaciones más exigentes, hasta una línea completa de sistemas EDXRF y WDXRF de sobremesa.

Análisis portátil de aleaciones de metal

En cuestión de segundos, el analizador portátil de metales, el Rigaku KT-100S, realiza fácilmente la identificación de los grados de aleación más difíciles. El analizador KT-100S utiliza la Espectroscopía de Plasma Inducido por Láser (LIBS) que permite una identificación duradera y precisa de la aleación; para ser utilizada en la clasificación de chatarra, el aseguramiento de la calidad en la fabricación de metal y la Identificación Positiva de Materiales (PMI) en operaciones de misión crítica, como en el campo aeroespacial y la petroquímica.

 

Application notes

The following application notes are relevant to this application

WDXRF

EDXRF

Process

Total reflection XRF (TXRF)

X-ray topography (XRT)

Rigaku recommends the following systems:


Total reflection XRF (TXRF)

El nuevo espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF), de sobremesa, de próxima generación

WDXRF

El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.

Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.

High-power, tube-below, sequential WDXRF spectrometer with new ZSX Guidance expert system software

Espectrómetro WDXRF diseñado para manejar muestras muy grandes y/o pesadas.

Espectrómetro WDXRF de alto rendimiento, multicanal, simultaneo, de tubo superior, analiza de Be a U

EDXRF

El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

Nuevo sistema EDXRF de colimador variable de pequeño punto de 60 kV con software QuantEZ

Nuevo sistema EDXRF de 60 kV con software QuantEZ y análisis sin estándares opcional.

El analizador elemental EDXRF de bajo costo mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

El analizador elemental EDXRF de rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

Espectrómetro EDXRF con potente software de Windows® y FP opcional

Process

Analizadores de escaneo de proceso de elementos múltiples, para aplicaciones de tira o bobina.

El analizador de procesos de elementos múltiples EDXRF analiza de aluminio (Al) a uranio (U).

Espectrómetro portátil de ruptura inducida por láser (LIBS) para una identificación rápida y precisa de la aleación.