Pasar al contenido principal

Textura y figuras de polo

Texture and pole figures

Distribución de las orientaciones cristalográficas

En muchos casos, la textura cristalográfica (orientación preferida) se puede introducir en un material durante el proceso de fabricación. Por ejemplo, cuando las láminas de acero se enrollan en el proceso de fabricación, a menudo se produce una textura de lámina. Dado que la textura puede afectar las propiedades de un material al introducir la anisotropía estructural, es recomendable medir la textura de un material.

La medida típica para determinar la textura se llama figura de polo. Las mediciones tradicionales de figuras de polo se llevan a cabo registrando la intensidad de una reflexión de Bragg como una función de la rotación y de la inclinación de la muestra. En una figura de polo en plano, el haz incidente, la rotación de la muestra y el ángulo del detector se mueven, eliminando la necesidad de inclinar la muestra. La figura de polo en plano también permite registrar un mayor rango de textura, ya que ahora contiene la textura en plano (superficie de la muestra) de la muestra.

Los dos diagramas superiores (a la derecha) muestran una figura de polo en plano de la reflexión para una muestra de chapa de acero laminada. La parte central de color rojo oscuro indica la textura a lo largo de la dirección [211]. La ilustración muestra la figura de polo tanto en proyección estereográfica (mapa de contorno) como en pantalla 3D. Los dos diagramas inferiores (a la derecha) muestran la figura de polo (002) de una lámina de Cu de 50 micras de espesor. El pico más fuerte (002) en el centro de la figura de polo indica que la lámina está preferiblemente orientada (001) a lo largo de la superficie normal. Los cuatro picos vistos en el borde son Cu (200), (200), (020) y (020), respectivamente, debido a la estructura cúbica de las redes de cobre.
 

Rigaku recommends the following systems:


XRD

Sistema avanzado de rayos XRD de alta resolución y tecnología de punta, impulsado por el software del sistema experto Guidance

Difractómetro de rayos X multipropósito altamente versátil con guía inteligente incorporada

Sistema XRD multipropósito de alto rendimiento para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad.