NEX DE

NEX DE
NEX DE high performance EDXRF spectrometer
Features
  • Analice de ₁₁Na a ₉₂U de forma no destructiva.
  • Potente software QuantEZ basado en Windows®.
  • Sólidos, líquidos, aleaciones, polvos y películas delgadas.
  • Tubo de rayos X de 60 kV para una amplia cobertura elemental.
  • Detector FAST SDD® para estadísticas de conteo superiores.
  • Múltiples filtros automáticos de tubo para una sensibilidad mejorada.
  • Relación rendimiento/precio inigualable.
  • Software opcional de parámetros fundamentales RPF-SQX.
  • Software opcional de parámetros fundamentales sin estándar.

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva de alta resolución (EDXRF)

Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas

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Como un espectrómetro elemental premium de alto rendimiento de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva (EDXRF), el nuevo Rigaku NEX DE ofrece una amplia cobertura elemental con un software QuantEZ fácil de aprender basado en Windows® . Analice de forma no destructiva de sodio (Na) a uranio (U) en casi cualquier matriz, desde sólidos y aleaciones hasta polvos, líquidos, lodos y películas delgadas.

Análisis elemental XRF en el campo, planta o laboratorio

Especialmente diseñado y fabricado para un uso industrial pesado, ya sea en las instalaciones de la planta o en entornos de campo remotos, la potencia analítica superior, la flexibilidad y la facilidad de uso del NEX DE se suman a su amplio potencial para una variedad cada vez mayor de aplicaciones, que incluyen la exploración, investigación, inspección a granel de RoHS y educación, así como aplicaciones de monitoreo industrial y de producción. Ya sea que la necesidad sea un control de calidad básico (QC) o sus variantes más sofisticadas, como el control de calidad analítico (AQC), el aseguramiento de la calidad (QA) o el control de procesos estadísticos como Six Sigma, el NEX DE es la opción confiable de alto rendimiento para el análisis elementad de XRF de rutina.

XRF con tubo de rayos X de 60 kV y detector SDD

El tubo de rayos X de 60 kV y el detector de deriva de silicio FAST SDD® enfriado por Peltier ofrecen una repetibilidad excepcional a corto plazo y una reproducibilidad a largo plazo con una excelente resolución pico del elemento. Esta capacidad de alto voltaje (60 kV), junto con una corriente de alta emisión y múltiples filtros automáticos de tubos de rayos X, proporciona un amplio rango de aplicaciones XRF, versatilidad y bajos límites de detección (LOD).

Opciones XRF: automuestreador, vacío, helio y FP sin estándar

Las opciones incluyen parámetros fundamentales, una variedad de cambiadores de muestras automáticos, giradores de muestra y purga de helio o atmósfera de vacío para mejorar la sensibilidad del elemento ligero.

*FAST SDD® es una marca registrada de Amptek, Inc.

Specifications

Nombre del producto NEX DE
Técnica Fluorescencia de rayos X (XRF)
Ventajas Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas
Tecnología XRF (EDXRF) de dispersión de energía utilizando el detector SDD
Atributos principales 12 W, tubo de rayos X de 60 kV, detector SDD, analice de Na a U
Opciones principales Purga de He, vacío, automuestreador, girador (posición única), FP
Computadora PC externa, sistema operativo MS Windows®, software QuantEZ
Dimensiones principales 356 (ancho) x 260 (alto) x 351 (profundo) mm
Cuerpo Aprox. 27 kg (unidad central)
Requerimientos de energía 1Ø, 100/220 VAC 50/60 Hz, 1.5 A