NEX DE VS

NEX DE VS
NEX DE VS variable spot size EDXRF spectrometer
Características
  • Analice de ₁₁Na a ₉₂U de forma no destructiva.
  • Tamaños de punto de 1, 3 y 10 mm, seleccionables por software.
  • Imágenes de alta resolución para un posicionamiento preciso de la muestra.
  • Potente software QuantEZ basado en Windows®.
  • Sólidos, líquidos, aleaciones, polvos y películas delgadas.
  • Tubo de rayos X de 60 kV para una amplia cobertura elemental.
  • Detector FAST SDD® para estadísticas de conteo superiores.
  • Múltiples filtros automáticos de tubo para una sensibilidad mejorada.
  • Relación rendimiento/precio inigualable.
  • Software opcional de parámetros fundamentales RPF-SQX.
  • Software opcional de parámetros fundamentales sin estándar.

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva (EDXRF) de tamaño de punto variable

Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas

Aprende más  

ENEX DE VS de Rigaku es un nuevo analizador elemental EDXRF de pequeño punto (variable) de sobremesa y de alto rendimiento, que ofrece una amplia cobertura elemental con un software QuantEZ fácil de aprender, basado en Windows®. Análisis de pequeños puntos, de sodio (Na) a uranio (U), de casi cualquier matriz, desde sólidos, películas delgadas y aleaciones hasta polvos, líquidos, lodos y películas delgadas.

Análisis elemental XRF en el campo, planta o laboratorio

Especialmente diseñado y fabricado para un uso industrial pesado, ya sea en las instalaciones de la planta o en entornos de campo remotos, la potencia analítica superior, la flexibilidad y la facilidad de uso del NEX DE se suman a su amplio potencial para una variedad cada vez mayor de aplicaciones, que incluyen la exploración, investigación, inspección a granel de RoHS y educación, así como aplicaciones de monitoreo industrial y de producción. Ya sea que la necesidad sea un control de calidad básico (QC) o sus variantes más sofisticadas, como el control de calidad analítico (AQC), el aseguramiento de la calidad (QA) o el control de procesos estadísticos como Six Sigma, el NEX DE es la opción confiable de alto rendimiento para el análisis elementad de XRF de rutina.

XRF con tubo de rayos X de 60 kV y detector SDD

El tubo de rayos X de 60 kV y el detector de deriva de silicio FAST SDD® enfriado por Peltier ofrecen una repetibilidad excepcional a corto plazo y una reproducibilidad a largo plazo con una excelente resolución pico del elemento. Esta capacidad de alto voltaje (60 kV), junto con una corriente de alta emisión y múltiples filtros automáticos de tubos de rayos X, proporciona un amplio rango de aplicaciones XRF, versatilidad y bajos límites de detección (LOD).

Opciones XRF: automuestreador, vacío, helio y FP sin estándar

Las opciones incluyen parámetros fundamentales, una variedad de cambiadores de muestras automáticos, giradores de muestra y purga de helio o atmósfera de vacío para mejorar la sensibilidad del elemento ligero. * FAST SDD® es una marca registrada de Amptek, Inc.

*FAST SDD® es una marca registrada de Amptek, Inc.

Especificaciones

Nombre del producto NEX DE VS
Técnica Fluorescencia de rayos X (XRF)
Ventajas Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas con un tamaño de punto de análisis variable
Tecnología XRF (EDXRF) de dispersión de energía, usando un detector SDD con colimación seleccionable por computadora
Atributos principales Tubo de rayos X de 60 W, 12 W, detector SDD, análisis de Na a U, punto variable (1,3 y 10 mm)
Opciones principales Purga de He, vacío, automuestreador, girador (posición única), FP
Computadora PC externa, sistema operativo MS Windows®, software QuantEZ
Dimensiones principales 356 (ancho) x 260 (alto) x 351 (profundo) mm.
Cuerpo Aprox. 27 kg (unidad central)
Requerimientos de energía 1Ø, 100/220 VAC 50/60 Hz, 1.5 A