NEX QC

NEX QC
NEX QC low cost EDXRF analyzer
Características
  • Analice de ₁₁Na a ₉₂U de forma no destructiva.
  • Sólidos, líquidos, aleaciones, polvos y películas delgadas.
  • Tubo de rayos X de 50 kV para una amplia cobertura elemental.
  • Detector de semiconductores para una calidad superior de datos.
  • Moderna interfaz de usuario impulsada por íconos, estilo teléfono inteligente.
  • Múltiples filtros automáticos de tubo para una sensibilidad mejorada.
  • Conveniente impresora térmica incorporada.
  • Bajo costo con una relación rendimiento/precio incomparable.

Analizador de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva (EDXRF) de bajo costo

Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas

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Como analizador elemental de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva (EDXRF) de bajo costo, el Rigaku NEX QC entrega una amplia cobertura elemental con una interfaz de software fácil de aprender en un paquete completo diseñado para aplicaciones industriales de control de calidad en línea. Analice de forma no destructiva de sodio (Na) a uranio (U) en casi cualquier matriz, desde sólidos y aleaciones hasta polvos, líquidos, lodos y películas delgadas.

EDXRF optimizado para aplicaciones de control de calidad

Específicamente diseñado para aplicaciones de análisis elemental de control de calidad de rutina, el nuevo Rigaku NEX QC presenta una interfaz de pantalla táctil intuitiva "controlada por íconos" para una fácil operación y una impresora incorporada para mayor conveniencia.

EDXRF con amplia cobertura elemental

El tubo de rayos X de 50 kV con obturador y el detector de semiconductores enfriado por Peltier, ofrecen una repetibilidad excepcional a corto plazo y una reproducibilidad a largo plazo con una excelente resolución pico del elemento. Esta capacidad de alto voltaje (50 kV), junto con múltiples filtros automáticos de tubos de rayos X, proporciona una amplia gama de aplicaciones XRF, versatilidad y bajos límites de detección (LOD).

Opciones de NEX QC: automuestreador, helio y FP

Las opciones incluyen cambiador automático de muestras, rotador de muestras y purga de helio para mejorar la sensibilidad de los elementos ligeros. Para aquellas aplicaciones que requieren mayor resolución y sensibilidad, Rigaku ofrece el analizador de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva NEX QC+ el cual está equipado con un detector de deriva de silicio (SDD).

Especificaciones

Nombre del producto NEX QC
Técnica Fluorescencia de rayos X (XRF)
Ventajas Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas
Tecnología Energía dispersiva XRF (EDXRF) usando el detector de estado sólido
Atributos principales Tubo de rayos X de 4 W, 50 kV, análisis de Na a U, impresora térmica interna
Opciones principales Purga de He, automuestreador de 5/6 posiciones, rotador de muestras (posición única)
Computadora Computadora interna, software NEX QC, conectividad USB y Ethernet
Dimensiones principales 331 (ancho) x 376 (alto) x 432 (profundo) mm
Cuerpo Aprox. 16 kg (unidad central)
Requerimientos de energía 1Ø, 100/220 VAC 50/60 Hz, 1.4 A