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NEX LS
Características
  • Recubrimientos de liberación de silicona
  • Convertidores
    • Silicona sobre plástico o papel
  • Plásticos formados al vacío
    • Desmoldante de recubrimientos de silicona
  • Plásticos especiales.
  • Conformidad con la RoHS.
  • Recubrimientos de conversión.
  • Plástico metalizado.
  • Revestimientos superiores en bobina de metal.
  • Retardantes de fuego en tela.

Analizador de energía dispersiva (EDXRF) de procesos

Proceso de escaneo del espesor/composición del recubrimiento en tiempo real y en línea

Con la tecnología avanzada de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva (EDXRF) de tercera generación, el Rigaku NEX LS representa la próxima evolución de los analizadores de escaneo del proceso de recubrimiento de elementos múltiples para aplicaciones de tira o bobina.

Fluorescente de rayos X de energía dispersiva (EDXRF)

Para ofrecer seguridad y un rendimiento analítico superior, el conjunto de la unidad (cabezal) de medición EDXRF se obtuvo de la instrumentación de sobremesa de alta resolución establecida por la serie NEX de Rigaku. Con su tecnología probada, el Rigaku NEX LS ofrece análisis rápidos, no destructivos, de elementos múltiples para el peso, espesor y/o la composición del recubrimiento, en elementos de aluminio (₁₃Al) a uranio (₉₂U).

Espesor y composición del recubrimiento

Rigaku NEX LS está específicamente diseñado para el dar servicio a las aplicaciones de tira y bobina, con la capacidad de realizar composiciones de elementos múltiples, peso de la capa o el espesor del recubrimiento. La unidad de medición está montada sobre una viga rígida y está equipada con un mecanismo de desplazamiento lineal colocado sobre un rodillo de modo que la distancia de la unidad a la superficie sea constante. Donde sea necesario, la composición elemental de un recubrimiento se mide directamente. En contraste, el peso del revestimiento (o el grosor del revestimiento) se puede medir directamente (donde la tasa de conteo para un elemento es proporcional al grosor) o indirectamente midiendo la atenuación de algún elemento del sustrato (donde la tasa de conteo se correlaciona negativamente con el grosor).

Recubrimientos de liberación de silicona

Los espectrómetros de sobremesa EDXRF han sido durante mucho tiempo una tecnología familiar para recubrimientos de liberación, convertidores, fabricantes de plásticos formados al vacío y otras industrias que utilizan aceites de silicona como capas de barrera, recubrimientos de liberación o agentes de descongelación. El escaneo en tiempo real, para tolerancias más estrictas del control de proceso, lleva la tecnología EDXRF para el análisis de recubrimientos de silicona al siguiente nivel. Los recubrimientos de silicona se aplican a sustratos de plástico y papel para modificar las características de liberación de un producto (como etiquetas) o envases. Si se aplica muy poca silicona o si hay áreas de la tira donde falta el revestimiento de silicona, las propiedades de liberación del adhesivo se verán afectadas negativamente en las aplicaciones de liberación o las características del desmoldado del plástico formado al vacío se verán comprometidas, causando el rechazo del producto o la interrupción en la fabricación y otros procesos posteriores. Si se aplica demasiada silicona, el costo del rollo fabricado aumenta, lo que reduce la rentabilidad y, en algunos casos, afecta la aceptación y el rendimiento del producto final.

Especificaciones
Nombre del producto NEX LS
Técnica Fluorescencia de rayos X (XRF)
Ventajas Análisis elemental en línea en tiempo real de Al a U para el espesor/composición del revestimiento
Tecnología XRF de energía dispersiva de procesos.
Atributos principales Tubo de rayos X de 50 kV, de 4 W, detector SDD, unidad de escaneo
Opciones principales Varía según la configuración
Computadora PC interna, sistema operativo Linux incorporado, software NEX LS
Dimensiones principales Varía según la configuración
Cuerpo Varía según la configuración
Requerimientos de energía 1Ø, 110/240 VAC, 2.5/1.5 A, 47-63 Hz