Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF) de sobremesa

El nuevo NANOHUNTER II de sobremesa de Rigaku, la próxima generación de espectrómetros de fluorescencia de rayos X por reflexión total (TXRF), permite el análisis elemental de alta sensibilidad de ultra trazas de líquidos a concentraciones de hasta partes por billón (ppb). La espectroscopia de fluorescencia de rayos X por reflexión total es un método donde un haz incidente de rayos X apenas roza la muestra, entregando un bajo ruido de fondo y una medición de alta sensibilidad de elementos ultra trazas.

TXRF para aplicaciones de elementos traza ambientales

Debido a las regulaciones ambientales cada vez más estrictas, ahora existe la demanda de un método más sencillo para llevar a cabo análisis elementales hasta niveles de ppb para líquidos residuales de fábricas y corrientes de efluentes. Usando el espectrómetro NANOHUNTER™ II, el análisis hasta el nivel de ppb es posible, incluso con un tamaño de muestra muy pequeño, simplemente añadiendo una gota de líquido al portador de muestras, secándolo, y luego realizando la medición. Los análisis cuantitativos utilizando sustancias estándares internas también se pueden realizar fácilmente.

TXRF de sobremesa con tubo de rayos X de potencia de 600 W

El analizador NANOHUNTER II TXRF de Rigaku, combina un sistema totalmente automático de ajuste del eje óptico que proporciona un análisis estable de alta sensibilidad en un formato de sobremesa que permite una operación rápida y sin problemas. Con una fuente de rayos X de alta potencia de 600 W, un espejo óptico recién desarrollado y un detector de deriva de silicio de superficie grande (SDD), el espectrómetro NANOHUNTER II TXRF cuenta con un automuestrador de 16 posiciones para tomar ventaja del rápido tiempo de medición para un alto rendimiento.

Principio de funcionamiento de TXRF

Un haz de rayos X incidente impacta sobre la muestra a un ángulo poco profundo (por debajo del ángulo límite para la reflexión total de los rayos X en el sustrato) dando por resultado una reflexión prácticamente completa del haz de excitación lejos del detector de deriva de silicio (SDD). Esto permite reducir drásticamente las contribuciones de fondo del espectro medido con la fluorescencia de rayos X por energía dispersiva (EDXRF). Mediante la eficiente excitación de los elementos de la superficie, mientras que prácticamente se elimina el ruido de fondo, la técnica de TXRF permite un mayor rendimiento extremadamente alto de la señal a ruido, dando como resultado una medición elemental de sensibilidad ultra traza.

 

GI-XRF para perfiles profundos de películas delgadas

En el área de análisis de superficies sólidas, existe una demanda (principalmente en los campos de películas delgadas y gruesas) para los análisis que ligeramente penetran con mayor profundidad que la superficie. Para estos tipos de análisis, se emplea una metodología llamada fluorescencia de rayos X de ángulo de incidencia rasante (GI-XRF) donde los elementos debajo de la superficie son excitados por la variación del ángulo de incidencia de la fuente de rayos X. Debido a que el espectrómetro NANOHUNTER II TXRF cuenta con un ángulo variable de incidencia, es posible realizar un análisis de perfil profundo de la superficie. La técnica GI-XRF es aplicable a la investigación a nanoescala.