Rigaku ZSX Primus III+ ofrece una determinación cuantitativa rápida de elementos atómicos mayores y menores, desde oxígeno (O) hasta uranio (U), en una amplia variedad de tipos de muestras, con estándares mínimos.
Tubo por arriba de la óptica para una confiabilidad superior
ZSX Primus III+ presenta una configuración innovadora de óptica superior. Nunca más se preocupe por una trayectoria de haz contaminada o tiempo de inactividad debido al mantenimiento de la cámara de muestra. La geometría de la óptica superior (por arriba) elimina las preocupaciones de limpieza y aumenta el tiempo de actividad.
Posicionamiento de muestras de alta precisión
El posicionamiento de alta precisión de la muestra asegura que la distancia entre la superficie de la muestra y el tubo de rayos X se mantenga constante. Esto es importante para aplicaciones que requieren alta precisión, como el análisis de aleaciones. ZSX Primus III+ realiza un análisis de alta precisión utilizando una configuración óptica única, diseñada para minimizar los errores causados por las superficies no planas en muestras como perlas fusionadas y gránulos prensados.
Parámetros fundamentales SQX con el software EZ-scan
EZ-scan permite a los usuarios analizar muestras desconocidas sin ninguna configuración previa. Esta función de ahorro de tiempo requiere de solo unos pocos clics en el ratón y de la introducción de un nombre de muestra. Combinado con el software de parámetros fundamentales SQX, proporciona los resultados XRF más precisos y rápidos posibles. SQX es capaz de corregir automáticamente todos los efectos de matriz, incluidas las superposiciones de líneas. SQX también puede corregir el efecto de excitación secundaria por fotoelectrones (elementos ligeros y ultraligeros), atmósferas variables, impurezas y diferentes tamaños de muestra. Se logra una mayor precisión utilizando la biblioteca de coincidencias y los programas de análisis de escaneo perfectos.
