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ZSX Primus IV
Características
  • Análisis de elementos de Be a U.
  • Software de sistema experto Guiadance ZSX.
  • Analizador digital multicanal (D-MCA)
  • Interfaz de análisis EZ para mediciones de rutina.
  • El tubo por arriba (superior) de la óptica minimiza los problemas de contaminación.
  • Su tamaño compacto ocupa poco espacio de laboratorio.
  • Microanálisis para analizar muestras tan pequeñas como 500 µm.
  • El tubo de 30μ ofrece un rendimiento superior de elementos ligeros.
  • Función de mapeo para la topografía/distribución elemental.
  • El sello de helio significa que la óptica siempre está bajo vacío.

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivos de longitud de onda secuencial, de tubo superior

Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas

Como un espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivos de longitud de onda secuencial (WDXRF), el nuevo Rigaku ZSX Primus IV, ofrece una determinación cuantitativa rápida de elementos atómicos mayores y menores, desde berilio (Be) hasta uranio (U), en una amplia variedad de tipos de muestra, con estándares mínimos.

Nuevo software XRF del sistema experto Guidance ZSX

ZSX Guidance lo apoya en todos los aspectos de la medición XRF y el análisis de datos. ¿Puede el análisis preciso ser realizado solo por expertos? No, eso está en el pasado. El software ZSX Guidance, con la experiencia XRF incorporada y el conocimiento de expertos calificados, se encarga de las configuraciones sofisticadas. Los operadores simplemente ingresan la información básica sobre las muestras, los componentes de análisis y la composición estándar. Las líneas medidas con la menor superposición, los fondos óptimos y los parámetros de corrección (incluidas las superposiciones de líneas) se configuran automáticamente con la ayuda de espectros cualitativos.

Excepcional rendimiento del elemento ligero XRF con óptica invertida para una confiabilidad superior

ZSX Primus IV presenta una configuración innovadora de óptica superior (por arriba). Nunca más se preocupe por una trayectoria de haz contaminada o tiempo de inactividad debido al mantenimiento de la cámara de muestra. La geometría de la óptica superior (por arriba) elimina las preocupaciones de limpieza y aumenta el tiempo de actividad. Proporcionando un rendimiento superior con la flexibilidad para analizar las muestras más complejas, el espectrómetro ZSX Primus IV WDXRF presenta un tubo de 30 micras, el tubo de ventana final más delgado disponible en la industria, para límites de detección de elementos ligeros excepcionales (bajo Z).

Mapeo y análisis XRF multipunto

Combinado con el paquete de mapeo más avanzado para detectar la homogeneidad y las inclusiones, el ZSX Primus IV permite una investigación espectrométrica XRF fácil y detallada de muestras, que proporcionan información analítica que no se obtiene fácilmente por otras metodologías analíticas. El análisis multipunto disponible también ayuda a eliminar errores de muestreo en materiales no homogéneos.

Parámetros fundamentales SQX con el software EZ-scan

EZ-scan permite a los usuarios realizar análisis elementales XRF de muestras desconocidas sin ninguna configuración previa. Esta función de ahorro de tiempo requiere de solo unos pocos clics en el ratón y de la introducción de un nombre de muestra. Combinado con el software de parámetros fundamentales SQX, proporciona los resultados XRF más precisos y rápidos posibles. SQX es capaz de corregir automáticamente todos los efectos de matriz, incluidas las superposiciones de líneas. SQX también puede corregir el efecto de excitación secundaria por fotoelectrones (elementos ligeros y ultraligeros), atmósferas variables, impurezas y diferentes tamaños de muestra. Se logra una mayor precisión utilizando la biblioteca de coincidencias y los programas de análisis de escaneo perfectos.

Video for ZSX Primus series

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