Pasar al contenido principal
Simultix 15
Características
  • Multicapas sintéticas, SERIE RX
    • El nuevo cristal sintético multicapa "RX85" produce un 30% más de intensidad que las capas múltiples existentes para Be-Ka y B-Ka.
  • Canal XRD
    • Equipado con un canal XRD, el Simultix 15 puede realizar el análisis cuantitativo por XRF y XRD.
  • Cristal doblemente curvado
    • El cristal doblemente curvado opcional se puede equipar a un canal fijo. La intensidad del cristal doblemente curvado aumenta en comparación con el cristal curvo simple.
  • El software mejorado es fácil de usar
    • El software Simultix 15 ha mejorado la operatividad de la configuración de condiciones cuantitativas, al adoptar una barra de flujo de análisis cuantitativo igual que el software ZSX.
  • Goniómetro de escaneo pesado y liviano
    • El goniómetro de amplio rango elemental opcional admite la semi cuantificación (FP) sin estándar, y puede usarse para la determinación cualitativa o cuantitativa de elementos no rutinarios.
  • Medición de BG para oligoelementos
    • Medición de fondo (BG) opcional para canal fijo, lo que resulta en ajustes de calibración mejorados y precisión superior.
  • Control Automático de la Presión (APC)
    • El sistema APC opcional mantiene un nivel de vacío constante en la cámara óptica para mejorar drásticamente la precisión del análisis de elementos ligeros.
  • Método cuantitativo de relación de dispersión
    • Cuando se utiliza el método de relación de dispersión de Compton, para el análisis de minerales y concentrados, el opcional método cuantitativo de relación de dispersión genera alfas teóricas para la calibración de la relación de dispersión.
  • Hasta 40 canales fijos
    • Configuración estándar de 30 canales fijos que se puede actualizar opcionalmente a 40 canales.
  • Automatización
    • La unidad de carga de muestras opcional proporciona alimentación por correa desde un sistema automático de preparación de muestras de terceros.

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivos de longitud de onda simultánea de tubo superior

Análisis elemental de alto rendimiento de sólidos, polvos y aleaciones

Durante más de 40 años, el sistema de espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivo de longitud de onda simultánea Rigaku Simultix (WDXRF) se ha utilizado ampliamente como una herramienta analítica elemental para el control de procesos en industrias que requieren un alto rendimiento y precisión, como el acero y el cemento. Se han entregado cerca de 1,000 instrumentos Simultix XRF a clientes de todo el mundo. Junto con el progreso tecnológico durante estos años, los requisitos del cliente también han avanzado y diversificado. El analizador elemental Simultix 15 WDXRF fue desarrollado para satisfacer estas necesidades cambiantes. Ofrece un rendimiento, funciones y usabilidad significativamente mejorados. El compacto e inteligente Simultix 15 es una poderosa herramienta analítica para el análisis elemental que demuestra un rendimiento superior en muchos sectores industriales.

XRF para un análisis elemental rápido y preciso

Analice berilio (Be) a través de uranio (U) en casi cualquier matriz de muestra. Las métricas más importantes para el control automatizado de procesos son la precisión, la exactitud y el rendimiento de la muestra. Con hasta 30 (y opcionalmente 40) canales elementales discretos y optimizados y 4 kW (u opcionalmente 3 kW) de potencia de tubo de rayos X, Simultix 15 ofrece una velocidad y sensibilidad analíticas incomparables. Junto con un software potente pero fácil de usar, con amplias capacidades de reducción de datos y funcionalidad de mantenimiento, este instrumento es la herramienta de metrología de análisis elemental perfecta.

Análisis elemental por XRF con automatización completa

Para aplicaciones de alto rendimiento, la automatización es un requisito fundamental. El espectrómetro Rigaku Simultix 15 WDXRF puede estar equipado con un cambiador automático de muestras (ASC) de 48 posiciones. Para una automatización completa, la unidad de carga de muestras opcional proporciona alimentación por correa del lado derecho o izquierdo desde un sistema de automatización de preparación de muestras de terceros.

Análisis elemental por WDXRF simultáneo

A diferencia de la instrumentación secuencial WDXRF más común, donde los elementos se miden uno tras otro utilizando un goniómetro de escaneo equipado con un mecanismo cambiador de cristal analizador, el WDXRF simultáneo acelera el proceso de medición.

Upcoming training sessions

Title Dates Cost Location Notes Course outline Registration form
X-ray fluorescence software and applications training (USA) - $3500 Online Class outline Registration form
ZSX Primus IV & Supermini200 Online training (Europe) - Please contact ECOE@rigaku.com Neu-Isenburg, Germany Class outline Online registration form
X-ray fluorescence software and applications training (USA) - $3500 Online Class outline Registration form
X-ray fluorescence software and applications training (USA) - $3500 Online Class outline Registration form
ZSX Primus IV & Supermini200 Online training (Europe) - Please contact ECOE@rigaku.com Neu-Isenburg, Germany Class outline Online registration form
X-ray fluorescence software and applications training (USA) - $3500 Online Class outline Registration form
ZSX Primus IV & Supermini200 Online training (Europe) - Please contact ECOE@rigaku.com Neu-Isenburg, Germany Class outline Online registration form