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MiniFlex
Características
  • Nuevo diseño de 6th generación
  • Cámara de radiación compacta y a prueba de fallas
  • Ranura variable del haz incidente
  • Instalación simple y capacitación del usuario
  • Sistema de goniómetro alineado de fábrica
  • Operación de computadora portátil

Mediciones de:

  • Identificación de fase
  • Cuantificación de fase (ID de fase)
  • Porcentaje (%) de cristalinidad
  • Tamaño y deformación del cristalito
  • Refinamiento de parámetros de red
  • Refinamiento de Rietveld
  • Estructura molecular

Opciones:

  • Muestreador automático de 8 posiciones
  • Monocromador de grafito
  • D/teX Ultra: detector de tiras de silicio
  • HyPix-400 MF: detector 2D HPAD
  • Sujetador de muestra sensible al aire
  • Estuche (maleta) de viaje

Instrumento (XRD) de difracción de rayos X por polvo de sobremesa

Análisis de fase cualitativa y cuantitativa de materiales policristalinos

Difractómetro de rayos X de sobremesa para análisis de fase

El nuevo difractómetro de rayos X de sobremesa, el MiniFlex de sexta generación, es un instrumento analítico de difracción por polvo multipropósito que puede determinar: la identificación y cuantificación de fase cristalina (ID de fase), porcentaje (%) de cristalinidad, tamaño y deformación del cristalito, refinamiento de los parámetros de la red, refinamiento de Rietveld y estructura molecular. Es ampliamente utilizado en investigación, especialmente en la ciencia de los materiales y química, así como en la industria para la investigación y control de calidad. Es la última incorporación a la serie de analizadores MiniFlex de Rigaku, de difracción de rayos X de sobremesa, que comenzó con la introducción del sistema MiniFlex XRD original hace décadas.

Difracción de rayos X por polvo con detector HPAD

El sistema MiniFlex XRD ofrece velocidad y sensibilidad a través de innovadores avances tecnológicos, incluyendo el detector híbrido de píxeles de matriz (HPAD), el HyPix-400 MF 2D junto con una fuente de rayos X de 600 W disponible y un nuevo cambiador automático de muestras de 8 posiciones.

Detector híbrido de píxeles de matriz (HPAD)

Este nuevo detector de conteo directo de fotones permite la recolección de datos de alta velocidad, con bajo ruido y puede funcionar en modos 0D y 1D para el análisis XRD convencional y en modo 2D para muestras con tamaño de grano grueso y/u orientación preferida.

Los accesorios XRD mejoran su MiniFlex

Se ofrece una variedad de ánodos de tubo de rayos X, con una diversidad de accesorios de posicionamiento y rotación de muestras, junto con una variedad de accesorios de temperatura; para garantizar que el sistema MiniFlex de difracción de rayos X (XRD) sea lo suficientemente versátil como para realizar análisis cualitativos y cuantitativos desafiantes de una amplia gama de muestras, ya sea durante la investigación o durante el control de calidad de rutina. El nuevo sistema de difractómetro de rayos X, MiniFlex (Gen 6), es un ejemplo de la filosofía de Rigaku de "Liderar con innovación" al ofrecer el sistema de sobremesa más avanzado del mundo para la difractometría por polvo.

Software avanzado de difracción por polvo

Cada MiniFlex viene en serie con la última versión de SmartLab Studio II, el paquete de análisis de difracción por polvo con todas las funciones de Rigaku. La última versión ofrece nuevas funcionalidades importantes; incluyendo un método de parámetro fundamental (FP) para un cálculo de pico más preciso, identificación de fase utilizando la Base de Datos Abierta de Cristalografía (COD) y un asistente para el análisis de la estructura cristalina ab inito.

Historia del difractómetro de rayos X MiniFlex.

El difractómetro de rayos X (XRD) MiniFlex de Rigaku es históricamente significativo porque fue el primer instrumento comercial de difractometría de rayos X de sobremesa (de mesa de trabajo o de escritorio). Cuando se presentó en 1973, el original Miniflex™ XRD de sobremesa, era aproximadamente una décima parte del tamaño y mucho menos costoso que el equipo de difracción de rayos X (XRD) convencional de la época. El instrumento original (Gen 1), y su sucesor que se introdujo en 1976 (Gen 2), empleó un goniómetro horizontal con salida de datos proporcionada por un registrador interno de gráficas de tiras. El difractómetro de sobremesa de tercera generación (Gen 3), presentado en 1995, se llamaba Miniflex+. Proporcionó un avance dramático en la potencia de rayos X a 450 vatios (al operar a 30 kV y 15 mA) y control de computadora con PC con Windows®. Tanto el Miniflex+ como las generaciones posteriores de difractómetros de mesa emplean un goniómetro vertical y permiten el uso de un cambiador automático de muestras. La cuarta generación (Gen 4) Miniflex II de XRD de sobremesa, se introdujo en 2006 y ofreció el avance de una fuente de rayos X monocromática y un detector de tiras de silicio D/teX Ultra 1D. El MiniFlex600 de XRD de escritorio (Gen 5), de quinta generación, presentado en 2012, se basó en este legado con 600 W de potencia disponible y un nuevo software de difracción por polvo.

Especificaciones
Nombre del producto MiniFlex
Técnica Difracción de rayos X (XRD).
Ventajas Análisis de fase de materiales policristalinos.
Tecnología Difractómetro de rayos X de sobremesa con detector avanzado.
Atributos principales Tubo de rayos X de 600 W, detector de tiras de silicio D/teX Ultra, acepta muestras inusuales, diseño de sobremesa.
Opciones principales Automuestreador de 8 posiciones, detector HyPix-400 MF (2D HPAD), monocromador de grafito, sujetador de muestras sensible al aire, sujetador de muestra ShapeFlex.
Computadora PC externa, MS Windows® OS, software SmartLab Studio II
Dimensiones principales 620 (ancho) x 722 (alto) x 460 (profundo) mm.
Cuerpo 80 kg (core unit)
Requerimientos de energía 1Ø, 100-240 V 50/60 Hz

Upcoming training sessions

Dates Cost Location Notes Course outline Registration form
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