El nuevo espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF), de sobremesa, de próxima generación
El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.
Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.
High-power, tube-below, sequential WDXRF spectrometer with new ZSX Guidance expert system software
Espectrómetro WDXRF de alto rendimiento, multicanal, simultaneo, de tubo superior, analiza de Be a U
El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
El analizador elemental EDXRF de bajo costo mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
El analizador elemental EDXRF de rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
Analizadores de escaneo de proceso de elementos múltiples, para aplicaciones de tira o bobina.
El analizador de procesos de elementos múltiples EDXRF analiza de aluminio (Al) a uranio (U).
Metrología de contaminación de la superficie elemental traza por TXRF; obleas de hasta 300 mm
Metrología de contaminación de superficie elemental ultratrazas por TXRF con capacidad VPD; obleas de hasta 300 mm