Análisis de falla usando el espectrómetro de fluorescencia de rayos X con dispersión-de-longitud-de-onda ZSX Primus de Rigaku y un análisis SQX sin estándares.

El análisis de falla puede involucrar muchas técnicas analíticas para determinar la causa de la falla. La Fluorescencia de Rayos X por Longitud de Onda (WDXRF) ha probado ser un método bastante útil para asistir al análisis de falla ya que, en muchos casos, la composición elemental puede ser central en determinar la razón (modo) de falla. Con los métodos semi-cuantitativos de hoy en día, los cuales operan sin la necesidad de estándares elementales, el análisis puede ser efectuado de manera fácil y rápida.

Como ejemplo, analizamos un sedimento depositado en un enfriador de agua que se pensaba era importante para la potencial falla de un instrumento de rayos X en nuestro laboratorio. En este caso, solo dos gramos de muestra en polvo fueron recuperados para el análisis. La muestra fue preparada, secada, y colocada en la celda de muestra de plástico con película (lámina) de Prolene como ventana de análisis de superficie, como visto en la Figura 1.

La muestra fue corrida en vacío con en el sistema WDXRF Primus de Rigaku. El análisis fue efectuado con el programa SQX sin-estándares de Rigaku y una rutina de barrido EZ. La ventana para la configuración de barrido EZ puede ser vista en la Figura 2, la cual ilustra las cinco preguntas necesitadas para efectuar un análisis elemental semi-cuantitativo completo.

Los datos elementales resultantes del barrido de sedimento pueden ser vistos en la Tabla 1

Las altas concentraciones elementales de cobre y zinc indican una degradación de cobre en la línea de flotación del instrumento en cuestión.

Como visto en el ejemplo, los datos XRF pueden ofrecer pistas para determina donde ha u ocurrirá una falla. Este método puede ser instrumental en mantener el equipo o predecir problemas en un proceso antes de que haya una falla actual.