XRTmicron
Características
- Fuente de rayos X de doble longitud de onda de alto brillo: MicroMax-007 DW.
- Cámara CCD de alta resolución: XTOP (5.4 μm píxeles)
- Cámara CCD de resolución ultra alta: HR-XTOP (2.4 μm píxeles)
- Montaje de muestra horizontal para una mínima tensión artificial para las obleas.
- Corrección automática de la curvatura de la oblea para obtener la mejor calidad de imagen de dislocación.
- Operación automática del sistema que incluye un interruptor anódico de rayos X, un interruptor detector, un interruptor óptico y alineación, alineación de muestras y recolección de imágenes.
- Análisis automático de dislocación.
- Acepta obleas de 3, 4, 6, 8, 12 pulgadas.
- Compatible con cargador de obleas.
Sistema de imágenes de topografía de rayos X
Para la evaluación no destructiva de materiales monocristalinos
Especificaciones
Nombre del producto | XRTmicron |
Técnica | Topografía de rayos X |
Ventajas | Evaluación no destructiva de materiales monocristalinos |
Tecnología | Reproducción de imágenes usando rayos X |
Atributos principales | Fuente de rayos X de alto flujo y de objetivos múltiples, generador de imágenes CCD |
Opciones principales | XTOP o HR-XTOP CCD |
Computadora | PC externa, sistema operativo MS Windows® |
Dimensiones principales | 1800 (ancho) x 1800 (alto) x 1870 (profundo) (mm) |
Masa (unidad central) | 2200 kg |
Requerimientos de energía. | 3Ø, 200 V, 15 A |