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Difracción a baja temperatura

Anton Paar TTK 600 Low Temperature Chamber

Estudio de procesos dinámicos que necesitan ser investigados in situ

La difracción de rayos X (XRD) en condiciones no ambientales puede usarse para una variedad de aplicaciones, incluido el estudio de procesos dinámicos que deben investigarse in situ. Ejemplos de tales procesos son las reacciones que involucran el estado sólido, las transiciones de fase, el crecimiento de los cristalitos, la expansión térmica, etc. La difracción de rayos X se puede utilizar como un complemento muy informativo para otras técnicas analíticas térmicas más tradicionales (termogravimetría, calorimetría diferencial de barrido, etc.) proporcionando así de manera efectiva, la identificación de fase, el análisis de textura y la medición del tamaño de los cristalitos. A la derecha se muestra la cámara de baja temperatura Anton Paar TTK 450 para SmartLab y Ultima IV. Etapa de enfriamiento y calentamiento de muestras con enfriamiento con nitrógeno líquido. Amplio rango de temperaturas y facilidad de uso para una amplia gama de aplicaciones. Con cuchilla de haz y sujetador de muestra opcional de fondo cero, para la investigación de materiales orgánicos en ángulos bajos de 2θ. Rango de temperatura: -190°C a 600°C, Atmósferas: aire, gas inerte, vacío (10⁻² mbar).

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