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Microdifracción

Microdiffraction

Análisis XRD de pequeñas muestras o áreas, incluyendo el mapeo

El análisis de difracción de rayos X (XRD) realizado en muestras pequeñas o en áreas pequeñas de muestras grandes, se conoce comúnmente como microdifracción. Considerada la técnica de elección cuando las muestras son demasiado pequeñas para la óptica y la precisión de los instrumentos de difracción convencional, el método emplea un microhaz de rayos X para que las características de difracción puedan mapearse en función de la posición de la muestra. Con la capacidad de colocar con precisión un pequeño haz de rayos X en la superficie de una muestra, la información se puede trazar como un Mapa de Función de Difracción (DFM). Los datos de difracción pueden contener información sobre la identificación del compuesto, la orientación del cristalito (textura), la tensión, la cristalinidad y el tamaño del cristalito. El campo de la microdifracción está creciendo rápidamente en la investigación y fabricación de materiales porque los dominios más pequeños ahora afectan el rendimiento y la confiabilidad del producto. Las aplicaciones para el análisis de microdifracción incluyen: almohadillas de prueba en obleas estampadas, bibliotecas de compuestos formadas por la química combinatoria, inclusiones en muestras geológicas, análisis de las fallas de componentes de metal o plástico y Control de Calidad (CC) en la fabricación.

La difracción de rayos X convencional mide la tensión residual en materiales a granel. Las líneas de difracción de interés se producen a partir del área completa iluminada por el haz de rayos X, que generalmente es una fuente de línea de aproximadamente 2 mm por 12 mm. La profundidad de penetración del haz de rayos X proporciona la tercera dimensión para el volumen que se está probando. Cuando se incorpora una fuente puntual con micro óptica, se puede colocar con precisión en la muestra un tamaño de haz tan pequeño como 50 μm de diámetro y el instrumento se puede alinear con una precisión de 10 μm. La ilustración (derecha) muestra el microhaz utilizado como sonda de rayos X para medir la tensión en un filamento de alambre de acero inoxidable 304 de 0.005" de diámetro. Se selecciona un haz de tamaño apropiado (pinhole de 100 μm) para el experimento. El área iluminada por el haz de rayos X, así como la profundidad de penetración están marcadas
 

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