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Análisis Rietveld

Análisis Rietveld

Análisis XRD avanzado con Refinamiento de Ajuste de Patrón Completo

Inventado por Hugo Rietveld, el Refinamiento de Ajuste de Patrón Completo de Estructuras es ampliamente aceptado como un método excepcionalmente valioso para el análisis estructural de casi todo tipo de materiales cristalinos no disponibles en mono-cristal. En cuanto a la técnica de difracción de rayos X (DRX o XRD), el análisis Rietveld es análogo a la técnica de Parámetros Fundamentales para la florescencia de rayos X (FRX o XRF).

Este método de software refina varios métricos – incluyendo parámetros de celosía, forma y anchura de pico, y orientación preferida – para derivar los patrones de difracción calculados. Ya que el patrón de difracción derivado sea casi idéntico a los datos de la muestra no identificada, se pueden obtener varias propiedades pertinentes a esa muestra, incluyendo: Información cuantitativa precisa, tamaño del cristalito, y factores de ocupación de sitio. El proceso de refinación de patrón es computacionalmente intenso, y requiere varios minutos para calcular resultados en mezclas multi-componente. A comparación de los métodos convencionales, el análisis Rietveld tiene la ventaja de no requerir estándares para lograr resultados precisos dentro del ±1%. Antes de este avance, realizar análisis de fase cuantitativo en materiales complejos sin estándares usando difracción de polvos era casi imposible.