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Análisis de Rietveld

Análisis Rietveld

Análisis XRD con refinamiento del ajuste de patrón completo

Inventado por Hugo Rietveld, el Refinamiento de la Estructura de Ajuste de Patrón Completo es ahora ampliamente aceptado como un método excepcionalmente valioso para el análisis estructural de casi todas las clases de materiales cristalinos no disponibles como cristales individuales.

Este enfoque de software refina varias métricas, incluidos los parámetros de red, el ancho y la forma del pico, y la orientación preferida, para derivar un patrón de difracción calculado. Una vez que el patrón derivado es casi idéntico a los datos de la muestra desconocida, se pueden obtener varias propiedades pertenecientes a esa muestra, incluyendo: información cuantitativa precisa, tamaño del cristalito y factores de ocupación del sitio. El proceso de refinación del patrón es computacionalmente intensivo, requiriendo varios minutos para calcular los resultados de una mezcla multicomponente. El análisis Rietveld tiene la ventaja, sobre los métodos cuantitativos convencionales, de no requerir de estándares.