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Topografía de Rayos X (XRT)

X-ray Topography (XRT)

Visualice defectos en muchos materiales cristalinos diferentes

La topografía de rayos X es una técnica de imagen basada en la difracción de Bragg. Las imágenes topográficas de difracción registran el perfil de intensidad de un haz de rayos X difractado por un cristal. Por lo tanto, una topografía representa un mapeo de intensidad espacial bidimensional de rayos X reflejados, es decir la fina estructura espacial de un reflejo de Laue. Este mapeo de intensidad refleja la distribución del poder de dispersión dentro del cristal; por lo tanto, las topografías revelan las irregularidades en una red cristalina no ideal. La topografía de difracción de rayos X es una variante de la imagen de rayos X, que utiliza el contraste de difracción en lugar del contraste de absorción, que generalmente se usa en la radiografía y Tomografía Computarizada (TC). XRT se utiliza para controlar la calidad del cristal y visualizar los defectos en muchos materiales cristalinos diferentes. Ha resultado útil, por ejemplo al desarrollar nuevos métodos de crecimiento de cristales, para monitorear el crecimiento y la calidad de los cristales logrados, y para optimizar de forma iterativa las condiciones de crecimiento. En muchos casos, la topografía se puede aplicar sin preparar o dañar la muestra; por lo tanto, es una variante de las pruebas no destructivas.

Applications

The following applications are relevant to this technique

XRD

X-ray Imaging