Pasar al contenido principal

Difracción de rayos X (XRD)

Bragg Equation

Determinación de la estructura tridimensional de la materia

International Union of CrystallographyLa difracción de rayos X (XRD) es una de las herramientas no destructivas más importantes para analizar todo tipo de materia, desde fluidos hasta polvos y cristales. Desde la investigación hasta la producción y la ingeniería, XRD es un método indispensable para la caracterización de materiales y el control de calidad. Rigaku ha desarrollado una gama de difractómetros de rayos X, en cooperación con usuarios académicos e industriales, que proporcionan las soluciones de difracción técnicamente más avanzadas, versátiles y rentables disponibles en la actualidad.

Las técnicas de difracción de rayos X se utilizan para la identificación de fases cristalinas de diversos materiales y el análisis cuantitativo de la fase posterior a la identificación. Las técnicas de difracción de rayos X son superiores dilucidando la estructura atómica tridimensional de los sólidos cristalinos. Las propiedades y funciones de los materiales dependen en gran medida de las estructuras cristalinas. Por lo tanto, las técnicas de difracción de rayos X han sido ampliamente utilizadas como un medio indispensable en la investigación, el desarrollo y la producción de materiales.

La ecuación de Bragg, nλ = 2dsinθ es una de las claves en la comprensión de la difracción de rayos X. En esta ecuación, n es un entero, λ es la longitud de onda característica de los rayos X que incide en la muestra cristalizada, d es la distancia interplanar entre las filas de átomos, y θ es el ángulo del haz de rayos X con respecto a estos planos. Cuando se cumple esta ecuación, los rayos X dispersos por los átomos en el plano de una estructura periódica están en fase y la difracción se produce en la dirección definida por el ángulo θ. En el caso más simple, un experimento de difracción de rayos X consiste en un conjunto de intensidades difractadas y los ángulos en los que se observan. Este patrón de difracción se puede considerar como una huella química, y la identificación química se puede realizar comparando este patrón de difracción con una base de datos de patrones conocidos.

Rigaku recommends the following products:

Sistema avanzado de rayos XRD de alta resolución y tecnología de punta, impulsado por el software del sistema experto Guidance

Difractómetro de rayos X multipropósito altamente versátil con guía inteligente incorporada

Nuevo sistema XRD de sobremesa de uso general de sexta generación para identificación y cuantificación de fase

Sistema XRD multipropósito de alto rendimiento para aplicaciones que van desde I+D hasta el control de calidad.

Detector de rayos X 2D con la última tecnología de semiconductores diseñada para difractómetros de laboratorios caseros

Application Notes

The following application notes are relevant to this technique

XRD

Small Molecule, Single crystal

XRD, SAXS

Single crystal, XRD