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Difracción de rayos X (XRD)

Bragg Equation

Determinación de la estructura tridimensional de la materia

International Union of CrystallographyLa difracción de rayos X (XRD) es una de las herramientas no destructivas más importantes para analizar todo tipo de materia, desde fluidos hasta polvos y cristales. Desde la investigación hasta la producción y la ingeniería, XRD es un método indispensable para la caracterización de materiales y el control de calidad. Rigaku ha desarrollado una gama de difractómetros de rayos X, en cooperación con usuarios académicos e industriales, que proporcionan las soluciones de difracción técnicamente más avanzadas, versátiles y rentables disponibles en la actualidad.

Las técnicas de difracción de rayos X se utilizan para la identificación de fases cristalinas de diversos materiales y el análisis cuantitativo de la fase posterior a la identificación. Las técnicas de difracción de rayos X son superiores dilucidando la estructura atómica tridimensional de los sólidos cristalinos. Las propiedades y funciones de los materiales dependen en gran medida de las estructuras cristalinas. Por lo tanto, las técnicas de difracción de rayos X han sido ampliamente utilizadas como un medio indispensable en la investigación, el desarrollo y la producción de materiales.

La ecuación de Bragg, nλ = 2dsinθ es una de las claves en la comprensión de la difracción de rayos X. En esta ecuación, n es un entero, λ es la longitud de onda característica de los rayos X que incide en la muestra cristalizada, d es la distancia interplanar entre las filas de átomos, y θ es el ángulo del haz de rayos X con respecto a estos planos. Cuando se cumple esta ecuación, los rayos X dispersos por los átomos en el plano de una estructura periódica están en fase y la difracción se produce en la dirección definida por el ángulo θ. En el caso más simple, un experimento de difracción de rayos X consiste en un conjunto de intensidades difractadas y los ángulos en los que se observan. Este patrón de difracción se puede considerar como una huella química, y la identificación química se puede realizar comparando este patrón de difracción con una base de datos de patrones conocidos.

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Applications

The following applications are relevant to this technique

XRD

XRD, SAXS

XRD, Stress

Small Molecule