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Fluorescencia de rayos X (XRF)

Periodic Table

Medición de casi cualquier elemento en casi cualquier matriz

La fluorescencia de rayos X (XRF) proporciona uno de los métodos analíticos más simples, precisos y económicos para la determinación de la composición elemental de muchos tipos de materiales. Indispensables tanto para las funciones de I+D como para las funciones de Control de Calidad (QA), nuestros productos avanzados y únicos de WDXRF, se utilizan habitualmente para analizar productos desde el cemento hasta plásticos y desde metales hasta alimentos y obleas semiconductoras. Las ofertas de Rigaku van desde sistemas WDXRF de longitud de onda dispersiva de máxima potencia y alto rendimiento, para las aplicaciones más exigentes, hasta una línea completa de sistemas EDXRF y WDXRF de sobremesa.

Teoría de la fluorescencia de rayos X

X-ray fluorescence schematic

En la fluorescencia de rayos X (XRF), un electrón puede ser expulsado de su orbital atómico por la absorción de una onda de luz (fotón) de suficiente energía. La energía del fotón (hv) debe ser mayor que la energía con la que el electrón está unido al núcleo del átomo. Cuando un electrón orbital interno es expulsado de un átomo (imagen central), un electrón de un orbital de mayor nivel de energía será transferido al orbital de menor nivel de energía. Durante esta transición un fotón puede ser emitido por el átomo (imagen inferior). Esta luz fluorescente se denomina la característica radiografía del elemento. La energía del fotón emitido será igual a la diferencia de energías entre los dos orbitales ocupados por el electrón que hace la transición. Debido a que la diferencia de energía entre dos orbitales específicos, en un elemento dado, es siempre la misma (es decir, característica de un elemento en particular), el fotón emitido cuando un electrón se mueve entre estos dos niveles siempre tendrá la misma energía. Por lo tanto, al determinar la energía (longitud de onda) de la luz de rayos X (fotón) emitida por un elemento en particular, es posible determinar la identidad de ese elemento.

Applications

The following applications are relevant to this technique

EDXRF

WDXRF

Total reflection XRF (TXRF)