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Fluorescencia de rayos X (XRF)

Periodic Table

Medición de casi cualquier elemento en casi cualquier matriz

La fluorescencia de rayos X (XRF) proporciona uno de los métodos analíticos más simples, precisos y económicos para la determinación de la composición elemental de muchos tipos de materiales. Indispensables tanto para las funciones de I+D como para las funciones de Control de Calidad (QA), nuestros productos avanzados y únicos de WDXRF, se utilizan habitualmente para analizar productos desde el cemento hasta plásticos y desde metales hasta alimentos y obleas semiconductoras. Las ofertas de Rigaku van desde sistemas WDXRF de longitud de onda dispersiva de máxima potencia y alto rendimiento, para las aplicaciones más exigentes, hasta una línea completa de sistemas EDXRF y WDXRF de sobremesa.

Teoría de la fluorescencia de rayos X

X-ray fluorescence schematic

En la fluorescencia de rayos X (XRF), un electrón puede ser expulsado de su orbital atómico por la absorción de una onda de luz (fotón) de suficiente energía. La energía del fotón (hv) debe ser mayor que la energía con la que el electrón está unido al núcleo del átomo. Cuando un electrón orbital interno es expulsado de un átomo (imagen central), un electrón de un orbital de mayor nivel de energía será transferido al orbital de menor nivel de energía. Durante esta transición un fotón puede ser emitido por el átomo (imagen inferior). Esta luz fluorescente se denomina la característica radiografía del elemento. La energía del fotón emitido será igual a la diferencia de energías entre los dos orbitales ocupados por el electrón que hace la transición. Debido a que la diferencia de energía entre dos orbitales específicos, en un elemento dado, es siempre la misma (es decir, característica de un elemento en particular), el fotón emitido cuando un electrón se mueve entre estos dos niveles siempre tendrá la misma energía. Por lo tanto, al determinar la energía (longitud de onda) de la luz de rayos X (fotón) emitida por un elemento en particular, es posible determinar la identidad de ese elemento.

Rigaku recommends the following products:

El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.

High-power, tube-below, sequential WDXRF spectrometer with new ZSX Guidance expert system software

Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.

Espectrómetro WDXRF secuencial de tubo inferior, de alta potencia, con el Sistema Inteligente de Carga de Muestras (SSLS)

Espectrómetro secuencial WDXRF de tubo superior (por arriba) y de alta potencia

Espectrómetro WDXRF diseñado para manejar muestras muy grandes y/o pesadas.

Espectrómetro WDXRF de alto rendimiento, multicanal, simultaneo, de tubo superior, analiza de Be a U

Analizador WDXRF de azufre ultra bajo para el método ASTM D2622.

Analizador WDXRF de azufre ultra bajo para el método ASTM D2622.

Analizador WDXRF del método ASTM D2622 para azufre (S) en combustibles de petróleo y ULSD

Analizador WDXRF de elemento único y tubo inferior, para aplicaciones de control de calidad

El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

Nuevo sistema EDXRF de colimador variable de pequeño punto de 60 kV con software QuantEZ

Nuevo sistema EDXRF de 60 kV con software QuantEZ y análisis sin estándares opcional.

El analizador elemental EDXRF de bajo costo mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

El analizador elemental EDXRF de rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

Espectrómetro EDXRF con potente software de Windows® y FP opcional

Analizadores de escaneo de proceso de elementos múltiples, para aplicaciones de tira o bobina.

El analizador de procesos de elementos múltiples EDXRF analiza de aluminio (Al) a uranio (U).

Espectrómetro WDXRF simultáneo en línea para la metrología de película de metal de obleas; obleas de hasta 300 mm.

Espectrómetro WDXRF simultáneo para la metrología de obleas de película de metal; obleas de hasta 200 mm

Espectrómetro secuencial WDXRF para el análisis elemental y la metrología de película delgada de muestras grandes y/o pesadas

XRF y herramienta de metrología óptica para obleas planas y obleas con patrones; obleas de hasta 300 mm

Application Notes

The following application notes are relevant to this technique

EDXRF

WDXRF

WDXRF, XRF

Total reflection XRF (TXRF)