小角散乱

分布する粒子や空孔のサイズ分布を評価

小角散乱

X線小角散乱法を用いることにより、粉末や液体分散微粒子、薄膜中に分布する粒子や空孔のサイズ分布を評価できます。特に、TEM(透過電子顕微鏡:Transmission Electron Microscope)やDLS(動的光散乱法:Dynamic Light Scattering)等では評価困難なサブナノメータの粒子の平均サイズとその分布を評価することが可能です。

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