挖掘和精炼

XRD和XRF进行相位和元素分析

挖掘和精炼

在研究行星进程和地球结构时,地质学家定期分析岩石和矿物样品的成分和分子结构。在地质研究中一直作为重要工具的X射线分析技术在微区励磁、Mapping分析和无标准定量分析方面变得更加大功率化。X射线荧光(XRF)是表征地质材料的元素组成的关键技术。最新一代的波长色散XRF仪器采用微区分析和XY轴样品台来自动进行一个样品的多个测量,从而制作一个化学组成图。测量相组成时采用X射线衍射(XRD)。X射线衍射数据的里特沃尔德分析是当下公认的最具效率的晶相定量分析法。理学的专业知识和技术为这些测量提供了一些独有的解决方法。

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Systems: 
ZSX Primus II   ZSX Primus II
高功率、上照射式、具有Mapping分析和超轻元素性能的连续WDXRF光谱仪
  Simultix 15   Simultix 15
高功率、下照射式、多道同时WDXRF光谱仪分析元素范围从Be到U
  Supermini   Supermini200
台式下照射式WDXRF光谱仪分析元素范围从F到U的固体、液体和粉末样品
RAPID II   RAPID II
弯曲成像板(IP)XRD仪器,特点为极大孔径和旋转阳极或密封型X射线管线源(二选一)
  Ultima IV   Ultima IV
用于应用程序从研发到质量管理的高性能多功能的XRD仪器
  MiniFlex   MiniFlex
用于物相分析和晶相的定量分析等常规目的的新型第6代台式XRD仪器