温度変化による材料の挙動の研究

非標準的周囲条件（室温以外）でのＸ線回折（XRD）は、in situ（その場）での測定が必要な動的過程の研究など、さまざまな用途に使用できます。 そのようなプロセスの例には、固相間相転移、微結晶成長、熱膨張などを含む反応があります。Ｘ線回折は、相同定、方位分布、微結晶サイズデータを提供することで、従来の熱分析技術（熱重量分析、示差走査熱量測定など）に対する非常に有益な補完手段として使用することができます。