NANOPIX
NANOPIXは、実験室系装置として最高レベルの小角分解能(Qmin:~0.02nm-1)を有する小角X線散乱測定装置です。ナノスケール(0.1nm~100nm)の構造評価に最適で、固体、液体、液晶、ゲルなどの規則・不規則構造の分析が可能。ナノ粒子の粒子径分布計測、タンパク質分子の立体構造解析や離合・集散評価、炭素繊維強化樹脂(CFRP)など、ナノスケールの微細構造が高度に制御された先端材料研究などに役立ちます。
ナノスケールX線構造評価装置
最高レベルの小角分解能(Qmin~0.02nm-1)を有する小角X線散乱測定装置
諸元/仕様
製品名 | NANOPIX |
手法 | 小角および広角X線散乱(SAXS / WAXS) |
用途 | ナノスケール(0.1nm~100nm)の構造評価 |
テクノロジー | 小角分解能(Qmin:~0.02nm-1) |
主要コンポーネント | OptiSAXS光学系と多次元ピクセル検出器を備えた強力なX線源 |
オプション | GI SAXS、DSC、温度および湿度制御 |
制御(PC) | 外部PC、MS Windows® OS、NANOPIXガイダンス、2DP、SAXS 1D |
寸法 | 構成によって異なります |
質量 | 構成によって異なります |
電源 | 構成によって異なります |
アプリケーション・ノート
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