Настольный рентгеновский дифрактометр

Качественный и количественный анализ поликристаллических материалов

MiniFlex

2012 год знаменателен новейшими дополнениями к серии настольных рентгеновских дифракционных анализаторов MiniFlex. Новый 5-го поколения MiniFlex – многофункциональный дифрактометр широкого назначения, предназначенный для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических материалов. Теперь MiniFlex доступен в двух модификациях. Благодаря мощности трубки 600 Вт, MiniFlex 600 становится вдвое мощнее других настольных моделей. Это позволяет проводить быстрее анализ и повысить общую производительность при проведении исследований. Другая модель MiniFlex 300, благодаря малой мощности (мощность рентгеновской трубки 300 Вт) не нуждается в использовании внешней системы охлаждения. Новые возможности MiniFlex обеспечат вам максимум гибкости при проведении анализа.

Новая модель дифрактометра 5-го поколения MiniFlex идеально подходит для проведения быстро развивающегося сегодня анализа методом рентгеновской дифрактометрии. Дифрактометр обеспечивает скорость и чувствительность с помощью инновационных технологических усовершенствований, таких как высокоскоростной D/teX детектор (опция) в сочетании с новым 600 Вт источником рентгеновского излучения. Графитовый монохроматор (опция) в сочетании со стандартным сцинтилляционным счетчиком увеличивает чувствительность за счет оптимизации соотношения сигнал-фон. Если разрешение имеет первостепенное значение, варьируемые щели на падающий и дифрагированный пучок позволят вам добиться необходимого разрешения. Для обеспечения высокой пропускной способности, MiniFlex - единственный настольный рентгеновский дифрактометр, снабженный автоматическим загрузчиком образцов. Обучение рентгеновской дифракции в колледжах и университетах или ежедневный контроль качества на производстве, - MiniFlex обеспечит производительность и хорошие данные.

Каждый дифрактометр MiniFlex поставляется с последней версией программного обеспечения PDXL. PDXL - пакет программ с полным набором функций для обработки данных порошковой дифрактометрии, являющихся собственной разработкой компании Ригаку. Последняя версия PDXL включает в себя несколько новых важных функций, в частности, метод Фундаментальных Параметров для более точного определения положения пика, автоматизированный качественный рентгенофазовый анализ с использованием открытой кристаллографической базы данных (COD) и пользовательский интерфейс для расшифровки структуры исходя из первых принципов (ab initio).

Представленный компанией Ригаку в 1973 году на рынке MiniFlex, был разработан с целью предоставления начинающему пользователю возможности получать такие же надежные результаты, какие получает опытный специалист, используя стандартный большой многоцелевой дифрактометр. Новый дифрактометр MiniFlex сохраняет характеристики, сделавшие его популярным на протяжении многих лет, включая компактные размеры и прочную конструкцию. Это позволяет устанавливать инструмент в ограниченном пространстве, он прост в работе и обслуживании и с очень низкой стоимостью владения.

Ask for more info

Обзор:

  • Новый дизайн 6-ого поколения для 2012 года
  • Компактный, предохраняющий от излучения корпус
  • Варьируемые щели на падающий пучок
  • Простая установка и обучение пользователей
  • Выровненный на заводе гониометр
  • Управление с использованием портативного компьютера
Области применения:
  • Качественный фазовый анализ
  • Количественный фазовый анализ
  • Определение степени кристалличности
  • Определение размера кристаллитов и уровня искажений кристаллической решетки
  • Уточнение параметров решетки
  • Уточнение структуры материала методом Ритвельда
  • Определение молекулярной структуры
Опции:
  • 6-ти позиционный автоматический сменщик образцов
  • Графитовый монохроматор
  • Высокоскоростной кремниевый полосковый детектор
  • Держатель образца с функцией защиты от атмосферы
  • Дорожный футляр

MiniFlex accessories

AccessoryASC-8 : automatic 8 position sample changer with spinner
Automatic 8-position sample changer is compact and rugged. Integrated spinning improves particle statistics in polycrystalline sample measurements. Fully automatic alignment. Programmable.
 
AccessorySample holders
Various sample holder are available to meet the specific needs of particular applications.
 
AccessorySpecimen rotation attachment
The sample rotation stage allows continuous rotation at variable
speed of the sample holder to improve particle statistics during
powder diffraction measurements.
 
AccessoryGraphite monochromator for D/teX Ultra
The graphite monochromator optimizes sensitivity by lowering the background level. It improves signal-to-noise by eliminating fluorescence from Mn, Fe, Co, and Ni containing materials.
 
AccessoryAir-sensitive sample holder
An enclosed sample holder is available for users studying materials that might degrade in the presence of oxygen.
 
AccessoryD/teX Ultra high speed detector
This 1D silicon strip detector is optionally available for fast, high-resolution scanning.
 
AccessoryBTS 500 high temperature attachment
The high temperature attachment can heat a sample to do in-situ powder diffraction measurements under high temperature conditions from ambient to 500°C.
 
AccessoryHyPix-400 MF: 2D HPAD detector
Advanced hybrid array pixel detector (HPAD) with zero background noise, an active area of ​​400 mm2, spatial resolution of 100 μm, and maximum count rate of 106 cps/pixel or more. HyPix-400 can operate in 0D, 1D or 2D modes.

SmartLab Studio II is a new Windows®-based software suite developed for the flagship Rigaku SmartLab X-ray diffractometer that integrates user privileges, measurements, analyses, data visualization and reporting. Newly available for the MiniFlex, the modular (plugin) architecture of this software delivers state-of-the-art interoperability between the functional components. Just one click switches from measurement to analysis. Watch real-time scans from one experiment while simultaneously analyzing other data on the same desktop by selecting an appropriate layout. The software provides various analysis tools such as automatic phase identification, quantitative analysis, crystallite-size analysis, lattice constants refinement, Rietveld analysis, ab initio structure determination, etc.

Powder XRD: phase identification with a variety of available databases

Peak position, FWHM, integrated intensity and crystallite size are calculated by profile fitting. Rigaku’s optional “Hybrid Search/Match” uses peak-base qualification, which detects heavily distorted lattices, to identify solid solution phases that are difficult to identify. It also can determine whether preferred orientation exists based on decomposed peak intensities.

Powder XRD: quantification package

This option supports internal standard, external standard, and standard addition calibration methods. Calibration curves are used to quantify specific phases in the sample.

Powder XRD: comprehensive analysis package

This optional package can provide analysis results such as crystalline size, lattice strain, lattice parameters refinement, % crystallinity based on fully automated profile fitting executed after loading measured data. Results obtained aid in understanding the relationship between structure and physical properties, and allow users to compare results across different samples.

Powder XRD: direct derivation analysis package

The direct derivation (DD) method was invented by Professor Hideo Toraya of Rigaku Corporation in 2016. It quantifies phases from all integrated diffraction intensities and the chemical formulas of each phase found. Compared to the classical RIR method, where a single integrated peak intensity and RIR number are used, the DD method is less affected by preferred orientation and peak overlap.

Powder XRD: Rietveld analysis package

The package performs phase identification followed by Whole Powder Pattern Fitting (WPPF). The Rietveld analysis refines crystal structure or quantifies the phases directly from measured data, requiring neither reference samples nor a calibration curve. The whole powder pattern decomposition (Pawley method) is based on both the measured peak positions, and peaks shapes.



Продукт(ы):

(Удерживайте CTRL клавишу
в нажатом состоянии,
чтобы выбрать продукт)

Имя и Фамилия:
Организация:
E-mail:
Телефон: Код:
Адрес:
Город:
Область/Район:
Почтовый индекс:
Страна :
Дополнительные комментарии
(URL-адреса не разрешены)