
This sixth generation benchtop diffraction system is a perfect XRD solution for R&D, QA/QC and teaching. Available high-speed detector, sample-changer and monochromator make it incredibly flexible.
>> See more
Пленки оксида молибдена используются в широком спектре приложений, таких как зеркала заднего вида, дисплеи панелей, газовые сенсоры и т.д.
Геометрия скользящего падения рентгеновского излучения (GIXRD) является жизнеспособной техникой исследования пленок, нанесенных на подложку различными способами. Сигнал от пленки усиливается, в то время как сигнал от подложки либо полностью устраняется или существенно уменьшается, используя эту технику.
На рисунке 1 показано θ/2θ сканирование в стандартной геометрии пленки оксида молибдена (MoO3), нанесенной на оксид олова (SnO2) / на стеклянной подложке. Данные были собраны на многофункциональной дифракционной системе Ultima IV от Ригаку. Дифракционные пики от подложки и пленки присутствуют в стандартном скане, а также наблюдается аморфное рассеяние от подложки в районе 2θ = 25°. При стандартном θ/2θ сканировании часть интенсивности рентгеновского излучения проникает сквозь пленку и рассеивается на подложке. Дифракционные пики и диффузное рассеяние от подложки могут пересекаться с дифракционными данными от тонкой пленки, приводя к ошибкам в положении и ширине пиков.
На рисунке 2 показано сканирование того же образца в геометрии скользящего падения пучка. Сигнал от пленки MoO3 увеличивается, а сигнал от подложки подавляется.
Две дифракционные картины сравниваются на рисунке 3. Видно, что метод скользящего падения пучка успешно устраняет дифракцию и рассеяние от подложки, делая анализ пленки легче и точнее.
Ultima IV представляет собой передовой многоцелевой рентгеновский дифрактометр. Внедрение CBO оптики, запатентованной компанией, на постоянной основе, надолго выровненной и с выбираемыми пользователем геометриями (параллельнного пучка или фокусирующей) - все это позволяет выполнять множество различных измерений ... быстро. Read more about Rigaku's Ultima IV...