Masaüstü X-ışını difraksiyon (XRD) cihazı

Polikristalin materyallerde kalitatif ve kantitatif analiz

MiniFlex

2012, masaüstü X-ışını difraksiyonu analiz cihazları Miniflex serisi için yeni gelişmeleri müjdeliyor. Yeni 5. kuşak Miniflex polikristal materyallerde kalitatif ve kantitatif analiz gerçekleştirebilen genel kullanımlı bir X-ışını difraksiyon (XRD) cihazı. Miniflex için şimdi iki farklı model mevcut. 600 watt (X-ışın tüpü) güçle çalışan Miniflex 600 diğer masaüstü modellerin iki katı kadar güçlü olması sayesinde daha hızlı analizi ve daha iyi sonuçlar almayı olanaklı kılıyor. 300 watt (X-ışın tüpü) güçle çalışan yeni Miniflex 300 ise harici bir soğutucuya gerek duymuyor. Her iki model de masaüstü cihazlarda maksimum esnekliği sağlamak üzere tasarlandı.

Bugünün hızlı XRD analiz ihtiyacını karşılamak için idealleştirilmiş 5. jenerasyon Miniflex, yeni 600W X-ışını kaynağı ve opsiyonel D/tex yüksek hızlı dedektör gibi devrim niteliğindeki teknolojik ekipmanları sayesinde daha yüksek hız ve duyarlılık sağlıyor. Opsiyonel grafit monokromatör, standart sintilasyon sayıcı ile birleşerek sinyal-gürültü oranını optimize ederek, hassasiyeti en üst seviyeye getiriyor. Çözünürlüğün ön planda olduğu durumda, istenilen çözünürlüğü elde etmek için gelen ve kırınıma uğramış ışın yarıkları arasında seçim yapma şansı tanıyor. Ayrıca Miniflex numunelerle yüksek verimlilikle çalışmak için numune değiştiriciye sahip olan tek masaüstü XRD sistemi. Bir üniversitede, X-ışını difraksiyonu dersinde veya endüstride rutin kalite güvenliği testlerinde kullanılan Miniflex, kullanıcıya uygun fiyatlarla, iyi performans elde etme olanağını sunuyor.

Her Miniflex standart olarak, Rigaku'nun tam fonksiyonlu toz difraksiyon analiz programı PDXL'in en son sürümü ile birlikte geliyor. Bu son sürüm, daha doğru tepe tayini yapmak için fundamental parameter yöntemi (FP), sıfırdan kristal yapısı tayini için bir sihirbaz ve faz tanımlama için Crystallography Open Database (COD) gibi önemli işlevsel özelliklere sahip.

1973 yılında piyasaya sunulan orijinal Miniflex, yeni başlayan bir kullanıcının bile kompakt bir XRD cihazı ile bir uzman kadar iyi analiz yapabilmesini sağlamak için tasarlanmıştı. Yeni Miniflex, onu popüler yapan bu karakteristik tasarımın temelleri üzerine yapılandırıldı. Küçük ebatları ve güçlü tasarımı sayesinde kurulum için çok az bir yere ihtiyaç duyuyor, kullanımı kolay ve büyük fiyat avantajına sahip.

Ask for more info

Özellikler:

  • 2012 için yeni 5. kuşak tasarım
  • Kompakt, tam güvenli radyasyon koruması
  • Gelen ışın değişken yarığı
  • Basit kurulum ve kullanımda kolaylık
  • Fabrikada ayarlanmış gonyometre sistemi
  • Dizüstü bilgisayarla kontrol edilebilme özelliği
Ölçümler:
  • Faz tanımlama
  • Faz ölçümü
  • Yüzde (%) kristallik
  • Kristalit boyutu ve gerinimi
  • Latis parametre düzeltmesi
  • Rietveld düzeltmesi
  • Moleküler yapı
Opsiyonlar:
  • 6-pozisyonlu otomatik numune tablası
  • Grafit monokromatör
  • Yüksek hızlı silikon şerit dedektörü
  • Havaya duyarlı numune tutucu
  • Taşıma sandığı

MiniFlex accessories

AccessoryASC-8 : automatic 8 position sample changer with spinner
Automatic 8-position sample changer is compact and rugged. Integrated spinning improves particle statistics in polycrystalline sample measurements. Fully automatic alignment. Programmable.
 
AccessorySample holders
Various sample holder are available to meet the specific needs of particular applications.
 
AccessorySpecimen rotation attachment
The sample rotation stage allows continuous rotation at variable
speed of the sample holder to improve particle statistics during
powder diffraction measurements.
 
AccessoryGraphite monochromator for D/teX Ultra
The graphite monochromator optimizes sensitivity by lowering the background level. It improves signal-to-noise by eliminating fluorescence from Mn, Fe, Co, and Ni containing materials.
 
AccessoryAir-sensitive sample holder
An enclosed sample holder is available for users studying materials that might degrade in the presence of oxygen.
 
AccessoryD/teX Ultra high speed detector
This 1D silicon strip detector is optionally available for fast, high-resolution scanning.
 
AccessoryBTS 500 high temperature attachment
The high temperature attachment can heat a sample to do in-situ powder diffraction measurements under high temperature conditions from ambient to 500°C.
 
AccessoryHyPix-400 MF: 2D HPAD detector
Advanced hybrid array pixel detector (HPAD) with zero background noise, an active area of ​​400 mm2, spatial resolution of 100 μm, and maximum count rate of 106 cps/pixel or more. HyPix-400 can operate in 0D, 1D or 2D modes.

SmartLab Studio II is a new Windows®-based software suite developed for the flagship Rigaku SmartLab X-ray diffractometer that integrates user privileges, measurements, analyses, data visualization and reporting. Newly available for the MiniFlex, the modular (plugin) architecture of this software delivers state-of-the-art interoperability between the functional components. Just one click switches from measurement to analysis. Watch real-time scans from one experiment while simultaneously analyzing other data on the same desktop by selecting an appropriate layout. The software provides various analysis tools such as automatic phase identification, quantitative analysis, crystallite-size analysis, lattice constants refinement, Rietveld analysis, ab initio structure determination, etc.

Powder XRD: phase identification with a variety of available databases

Peak position, FWHM, integrated intensity and crystallite size are calculated by profile fitting. Rigaku’s optional “Hybrid Search/Match” uses peak-base qualification, which detects heavily distorted lattices, to identify solid solution phases that are difficult to identify. It also can determine whether preferred orientation exists based on decomposed peak intensities.

Powder XRD: quantification package

This option supports internal standard, external standard, and standard addition calibration methods. Calibration curves are used to quantify specific phases in the sample.

Powder XRD: comprehensive analysis package

This optional package can provide analysis results such as crystalline size, lattice strain, lattice parameters refinement, % crystallinity based on fully automated profile fitting executed after loading measured data. Results obtained aid in understanding the relationship between structure and physical properties, and allow users to compare results across different samples.

Powder XRD: direct derivation analysis package

The direct derivation (DD) method was invented by Professor Hideo Toraya of Rigaku Corporation in 2016. It quantifies phases from all integrated diffraction intensities and the chemical formulas of each phase found. Compared to the classical RIR method, where a single integrated peak intensity and RIR number are used, the DD method is less affected by preferred orientation and peak overlap.

Powder XRD: Rietveld analysis package

The package performs phase identification followed by Whole Powder Pattern Fitting (WPPF). The Rietveld analysis refines crystal structure or quantifies the phases directly from measured data, requiring neither reference samples nor a calibration curve. The whole powder pattern decomposition (Pawley method) is based on both the measured peak positions, and peaks shapes.



Ürün(ler):
(Birden fazla ürün
seçmek için CTRL
tuşuna basılı tutun)
İsim (Ad/Soyad):
Firma:
E-mail:
Tel: Dahili:
Adres:
Şehir:
Eyalet/İl/Bölge:
Posta kodu:
Ülke:
Yorumlar
(URL'lere izin
verilmemektedir
)