Rietveld分析

全图精修拟合的高级XRD分析

Rietveld分析由Hugo Rietveld发明的Whole Pattern Fitting Structure Refinement(全图拟合结构精修)已普遍成为一种普遍的有价值的分析方法,几乎可以结构分析所有类别的晶体材料,不适用于单晶。X射线衍射(XRD)技术的Rietveld分析与X射线荧光(XRF)的基本参数法相似。

此软件方法精修各种统计数据,包括晶格参数、峰宽、峰形和择优取向,从而派生一个计算的衍射图样。一旦派生出的图样与未知样品数据几乎完全相同,可以获得该样品的各种属性,包括准确的定量信息、晶粒尺寸和占有率。精修衍射图样的过程需要大量的计算,需要几分钟来计算出多组分混合物的结果。Rietveld分析优于用常规定量分析方法,无需标准获得±1%以内的准确结果。在此之前,使用粉末衍射法,进行复杂混合物的准确的无标准定量分析几乎是不可能的。

仪器

TTRAX   TTRAX III
世界最大功率θ/θ高分辨率X射线衍射仪,特点为面内衍射机械臂
  RAPID II   RAPID II
弯曲成像板(IP)XRD仪器,特点为极大孔径和旋转阳极或密封型X射线管线源(二选一)
  MiniFlex   MiniFlex
用于物相分析和晶相的定量分析等常规目的的新型第6代台式XRD仪器
Ultima IV   Ultima IV
用于应用程序从研发到质量管理的高性能多功能的XRD仪器
  SmartLab   SmartLab
通过系统指导软件(Guidance)运行的最新锐的高分辨率XRD仪器