Analizador rápido de tensión por rayos X

Medición no destructiva de la tensión residual acumulada en un material

PSPC/MSF

Utiliza rayos X no destructivos para medir la tensión residual acumulada en un material durante el proceso de fabricación. Diferentes tamaños de marco permiten muestras pequeñas, medianas y grandes.

El contador proporcional sensible a la posición (PSPC) permite una alta velocidad de medición. En comparación con el método convencional, el tiempo de medición puede ser reducido drásticamente, de 10 a 100 veces más rápido dependiendo del tipo de medición. Este analizador de tensión de rayos X orientado al campo de trabajo, permite al operador obtener inmediatamente los datos finales en el valor de tensión de una operación simple.

Principio de medición

Las incidencias de rayos X son difractadas por los planos de la red específica de los granos cristalinos. La difracción de rayos X entra en el PSPC (con longitud L) y choca con el detector de gas, ionizando las moléculas. Un alto voltaje es aplicado a través del cátodo y el ánodo de manera que las cargas eléctricas inducidas se recogen en el cátodo en una posición χ.

Los impulsos correspondientes aparecen en ambos extremos de una línea de retardo después de un lapso de tiempo proporcional a la incidencia de posición χ. Cuando el tiempo de retardo por unidad de longitud se denota por D y el tiempo requerido para producir la salida en el preamplificador A y preamplificador B por TA y TB, respectivamente, entonces sostiene las siguientes ecuaciones:

TA=Dχ

TB=D(L-χ)

TB-TA=D(L-2χ)

Por lo tanto la diferencia de tiempo de salida entre los dos amplificadores (TB-TA) es proporcional a la posición χ. Puesto que el tiempo de retardo es inferior a 1.3 microsegundos, la medición puede llevarse a cabo prácticamente de forma simultánea en toda la longitud efectiva L.

PSPC/MSF Rapid X-ray Stress Analyzer

Features

  • La información fundamental sobre el valor de la tensión se obtiene inmediatamente
  • Un sistema óptimo para la operación de campo que permite el procesamiento masivo de muestras
  • Puede trabajar con muestras de cualquier forma
  • Incorpora diferentes métodos de medición, tales como el método de inclinación ISO o, el método de inclinación lateral, etc.
  • La condición de medición baja puede ser fácilmente comprobada en el CRT


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